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            products

            目錄:孚光精儀(中國)有限公司>>進(jìn)口顯微鏡>>顯微鏡成像系統(tǒng)>> FPUNI-usm1200低溫UHV掃描探針顯微鏡

            低溫UHV掃描探針顯微鏡
            • 低溫UHV掃描探針顯微鏡
            • 低溫UHV掃描探針顯微鏡
            • 低溫UHV掃描探針顯微鏡
            參考價 面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            參考價 面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 品牌 孚光精儀
            • 型號 FPUNI-usm1200
            • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
            • 所在地 上海市
            屬性

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            >

            更新時間:2024-12-19 11:19:46瀏覽次數(shù):1945評價

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            產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價格區(qū)間 150萬-200萬
            儀器種類 掃描隧道顯微鏡 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池
            這款低溫UHV掃描探針顯微鏡是超高真空室內(nèi)應(yīng)用設(shè)計的高真空低溫SPM掃描探針顯微鏡。樣品預(yù)處理和探針清洗可在超高真空室中進(jìn)行,使超低溫STM/AFM能夠進(jìn)行原子或分子水平的分辨率觀測。

            這款低溫UHV掃描探針顯微鏡是超高真空室內(nèi)應(yīng)用設(shè)計的高真空低溫SPM掃描探針顯微鏡。樣品預(yù)處理和探針清洗可在超高真空室中進(jìn)行,使超低溫STM/AFM能夠進(jìn)行原子或分子水平的分辨率觀測。
            低溫UHV掃描探針顯微鏡特征

            廣泛適用于He溫度STM/AFM測量

            用戶友好,低溫性能和穩(wěn)定性優(yōu)異

            光學(xué)輻照采用透鏡級,適用于各種發(fā)光測量

            提供兩個原位沉積端口,適用于低溫沉積/吸附

            新型高效低溫恒溫器

            LHe消耗量為0.7升/天

            兩次LHe充裝之間的間隔時間大于12天

            充液氮間隔時間>1周


            低溫UHV掃描探針顯微鏡
            低溫UHV掃描探針顯微鏡應(yīng)用

            超低溫STM,非彈性隧穿光譜(IETS)

            應(yīng)用于各種AFM功能(MFM、KFM、SCM等)

            光激發(fā)STM、AFM測量

            隧道電流誘導(dǎo)的超低溫高分辨光發(fā)射,增強拉曼光譜

            原位沉積,原子、分子的吸附


            低溫UHV掃描探針顯微鏡
            STMTopographic Image ofSi(100)

            Temperature: 63 K

            Field of View: 3 nm × 3 nm


            Dr. YOKOYAMA in Yokohama City Univ.
            低溫UHV掃描探針顯微鏡

            STMMolecular Structure and Topographic Image of COOH-Porphyrin-Tetramer

            Temperature: 63 K

            Field of View: 11 nm × 11 nm


            Dr. YOKOYAMA in Yokohama City Univ.

            低溫UHV掃描探針顯微鏡規(guī)格參數(shù)

            分辨率: XY<2pm, Z<0.2pm

            磁場:無

            高真空:<10^-8Pa

            超低溫:6-10K固定溫度

            STM: 可選配

            其它:可以配備安裝透鏡,用于連接其它光學(xué)儀器


            最大掃描范圍 (X×Y×Z)1.7 × 1.7 × 0.25 µm3 @ 5 K
            分辨率Atomic resolution
            底座基礎(chǔ)溫度5 K
            底座基礎(chǔ)壓力Obs. Prep. Ch. 3.0×10-8 Pa, LLC 1.3×10-5 Pa
            STM控制器Nanonis™ SPM控制系統(tǒng)
            可選項
            AFM功能Tuning fork NC-AFM






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