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晶圓IC檢測金相顯微鏡MX-2000T是為晶圓檢測和IC檢查設(shè)計的數(shù)字金相顯微鏡,光學(xué)放大率高達400倍，XY工作臺行程范圍大且易于移動，您可以通過目測或自動聚焦顯微鏡攝像頭快速檢查晶圓，同時只需在LCD顯示屏上查看結(jié)果即可。
通過簡單的鼠標(biāo)點擊，您可以快速執(zhí)行尺寸測量，并將結(jié)果捕獲到SD卡或計算機上。對于任何半導(dǎo)體企業(yè)和冶金實驗室來說，晶圓IC檢測金相顯微鏡MX-2000T都是不可少的檢查、記錄的顯微鏡。
晶圓IC檢測金相顯微鏡典型應(yīng)用
半導(dǎo)體晶圓集成電路檢測顯微鏡
工業(yè)冶金分析
大功率遠(yuǎn)距離檢測顯微鏡
晶圓IC檢測金相顯微鏡MX-2000T特點
專為晶圓IC檢查而設(shè)計
用于自動對焦顯微鏡攝像頭或具有測量功能的4K攝像頭的三目端口
易于移動的10英寸x 10英寸XY工作臺，帶有同軸旋鈕控制，移動距離為195mm x 245mm
總光學(xué)放大率40x-400x，帶10x高目鏡
4x、10x、20x、40x無限平面消色差物鏡
目鏡22毫米視場，30度角
照明：鹵素同軸反射光
可靠且價格合理
晶圓IC檢測金相顯微鏡MX-2000T規(guī)格參數(shù)
觀察頭：無補償三眼頭，傾斜30度
目鏡：超寬視場目鏡WF 10X/22mm
物鏡：無限平面消色差，4X，10X，20X，40X，（80X可選）
放大倍數(shù)：40-800X（雙目目鏡觀察）
視場：0.275mm-5.5mm（雙目目鏡觀察）
Nosepiece物鏡轉(zhuǎn)塔：四重機頭：4X/10X/20X/40X（可選80X）
聚焦系統(tǒng)：同軸粗、精對焦系統(tǒng)，距離24mm
XY位移臺尺寸：300mm x 268mm
XY位移臺尺寸行程范圍：250mm x 250mm, 10″ x 10″
照明光源：鹵素?zé)?V20W，亮度連續(xù)可調(diào)
濾光片：藍色，黃色，綠色和Ground 玻璃
偏振配件：偏振分析器和偏振片

晶圓IC檢測金相顯微鏡檢測結(jié)果