目錄:徠卡顯微系統(tǒng)（上海）貿(mào)易有限公司>>電鏡樣品制備>> 精研一體機(jī) EM TXP
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更新時(shí)間：2025-01-06 17:59:21瀏覽次數(shù)：2629評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),制藥/生物制藥,綜合 |
精研一體機(jī) EM TXP
徠卡精研一體機(jī) EM TXP正是用于制備TEM樣品離子減薄薄片的利器！相比傳統(tǒng)的切割、磨拋、體視鏡觀察各個(gè)步驟需要不同的儀器分開(kāi)實(shí)現(xiàn)，EM TXP一體集成多種加工附件，包括切、磨、拋、銑、鉆等機(jī)械加工功能，還標(biāo)配專(zhuān)業(yè)級(jí)體視顯微鏡，可以實(shí)時(shí)觀察樣品的加工情況。除此之外，EM TXP的高精度主軸可以實(shí)現(xiàn)高精度加工控制和應(yīng)力反饋保護(hù)脆弱易碎樣品，顯著提升樣品加工效率和制樣成功率。
精研一體機(jī)徠卡EM TXP 標(biāo)靶面制備系統(tǒng)具有定點(diǎn)修塊拋光功能，是用鋸，磨，銑削，拋光樣品后，供掃描電鏡，透射電鏡，和LM技術(shù)檢測(cè)。
精研一體機(jī)徠卡EM TXP 帶有一體化體視鏡，用于精確定位及對(duì)較細(xì)微難以觀察的目標(biāo)位置進(jìn)行樣品處理時(shí)觀察；使用樣品旋轉(zhuǎn)手柄，可以改變樣品觀察角度，0°－60°可調(diào)，或者垂直于樣品前表面90°觀察，可利用目鏡刻度標(biāo)尺測(cè)量距離。
一體化自動(dòng)程序控制
一體化自動(dòng)程序控制，包括自動(dòng)左右制動(dòng)機(jī)制，前進(jìn)反饋力控制，倒計(jì)數(shù)功能等，為使用者節(jié)約大量時(shí)間。
表面光潔度和標(biāo)靶檢測(cè)
表面處理與目標(biāo)檢測(cè)，都通過(guò)一體化體視鏡來(lái)完成，用戶(hù)不需要專(zhuān)程將樣品拿出來(lái)再進(jìn)行表面觀察檢測(cè)，這可大大提高使用者的工作效率。
適配工具多樣性
可適配多種多樣工具，從而使樣品不經(jīng)轉(zhuǎn)移就可以進(jìn)行研磨，切割，鉆孔，打磨及拋光。并且整個(gè)處理過(guò)程都可通過(guò)體視鏡進(jìn)行觀察監(jiān)控，大大節(jié)省時(shí)間和費(fèi)用。
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