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            J100 Femto LA系統(tǒng)
            • J100 Femto LA系統(tǒng)

            貨物所在地:北京北京市

            更新時(shí)間:2025-02-03 21:00:07

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            J100 Femto LA系統(tǒng)是LA-ICP-MS技術(shù)向高精度、高準(zhǔn)確度、高靈敏度水平發(fā)展的重大突破。J100確保元素和同位素不分解的情況下,均勻剝蝕樣品成透明狀,這意味著剝蝕的顆粒能真實(shí)地代表樣品的化學(xué)特性,這是采用長(zhǎng)脈沖激光技術(shù)無(wú)法達(dá)到的

            LA-ICP-MS 的量子級(jí)飛躍

            J100 Femto LA系統(tǒng)是LA-ICP-MS技術(shù)向高精度、高準(zhǔn)確度、高靈敏度水平發(fā)展的重大突破。J100確保元素和同位素不分解的情況下,均勻剝蝕樣品成透明狀,這意味著剝蝕的顆粒能真實(shí)地代表樣品的化學(xué)特性,這是采用長(zhǎng)脈沖激光技術(shù)無(wú)法達(dá)到的。
             
            減少樣品的依賴(lài)性,比霧化技術(shù)精度高
            J100系列剝蝕樣品精度高,且沒(méi)有熱效應(yīng)。而采用長(zhǎng)激光脈沖的系統(tǒng),會(huì)發(fā)生的多種熱過(guò)程,改變剝蝕樣品的數(shù)量和化學(xué)成分,如改變熱特性等;并且無(wú)論采用什么波長(zhǎng),如266nm, 213nm 或193nm, 為了準(zhǔn)確定量的分析元素和同位素,需要高精度的、與測(cè)量樣品相匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。
             
             
            J100剝蝕均勻*,剝蝕的樣品顆粒能代表樣品的化學(xué)特性,無(wú)需高度匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),也能進(jìn)行高精度、定量LA-ICP-MS測(cè)量。
             
            均勻*的粒徑確保高精度、高靈敏度測(cè)量
            長(zhǎng)激光脈沖系統(tǒng)產(chǎn)生的樣品顆粒大(常大于數(shù)微米),駐留在輸送管中,導(dǎo)致運(yùn)輸效率低,并且降低了分析的靈敏度。大樣品顆粒還會(huì)在ICP-MS的瞬時(shí)信號(hào)中產(chǎn)生峰值,導(dǎo)致測(cè)量精度降低。J100系統(tǒng)產(chǎn)生的樣品顆粒均勻*,且尺寸分布合理,一般在10-200nm,運(yùn)輸效率高。這些到達(dá)ICP源的顆粒能*被消解,產(chǎn)生穩(wěn)健、恒定的瞬時(shí)ICP-MS信號(hào)。用戶(hù)可*依靠J100系統(tǒng)輸送高質(zhì)量的樣品顆粒到ICP-MS 系統(tǒng)。

            飛秒激光剝蝕產(chǎn)生的均勻顆粒

            元素和同位素的分餾zui少
            在LA-ICP-MS測(cè)量過(guò)程中引起元素或同位素分餾的兩大主要過(guò)程:(1)非化學(xué)計(jì)量物質(zhì)剝蝕的熱過(guò)程;(2)大樣品顆粒在ICP源不*消解。J100施加高能激光的時(shí)間比長(zhǎng)脈沖系統(tǒng)短,zui短達(dá)1/10000。J100系統(tǒng)通過(guò)非熱過(guò)程,施加超高激光輻射剝蝕樣品,產(chǎn)生的顆粒能在ICP源*消解,確保在測(cè)量過(guò)程中獲取高精度、穩(wěn)定的元素或同位素信號(hào)。
             高精度元素和同位素測(cè)量的保障

            ICP-MS瞬時(shí)信號(hào)波動(dòng)少,且集成的高強(qiáng)度
            導(dǎo)致精度和檢測(cè)靈敏度的提高

            ASI公司的技術(shù)團(tuán)隊(duì)擁有80多年激光剝蝕技術(shù)的基礎(chǔ)研究經(jīng)驗(yàn)和LA-ICP-MS方法的研究背景,也是世界*在LA-ICP-MS系統(tǒng)中采用飛秒激光脈沖,并實(shí)現(xiàn)其性能的公司。J100 Femto LA系統(tǒng)能完成挑戰(zhàn)性的化學(xué)分析工作。來(lái)自ASI公司嚴(yán)謹(jǐn)?shù)目蒲泻褪瞧渌夹g(shù)無(wú)法達(dá)到的。使用ASI公司的產(chǎn)品,意味著能直接和世界*的研究團(tuán)隊(duì)交流,并得到專(zhuān)業(yè)的。

            強(qiáng)大的  軟件與ICP-MS儀器協(xié)同操作

            J100 Femto LA系統(tǒng)軟件 功能直觀(guān)、帶圖形界面,易瀏覽不同的樣品區(qū)域,設(shè)立靈活的采樣方式。 采用雙向通信控制,協(xié)同操作ICP-MS儀器達(dá)到了*的水平。 軟件讓用戶(hù)通過(guò)基本單元“處方”來(lái)制定各個(gè)硬件工作的時(shí)間序列命令集,并通過(guò)串聯(lián)多個(gè)“處方”,讓系統(tǒng)自動(dòng)完成各個(gè)測(cè)量工作。
             
            硬件控制簡(jiǎn)單、方便

            軟件使J100用戶(hù)簡(jiǎn)單、方便地操作硬件部件。只需簡(jiǎn)單點(diǎn)擊tab鍵,用戶(hù)即可檢查飛秒激光、氣流系統(tǒng)、光模塊、3-D操作臺(tái)、自動(dòng)高度調(diào)節(jié)傳感器、樣品室等部件的工作狀態(tài),不同用戶(hù)組可賦予不同的使用權(quán)限。

            獲取勾邊樣品圖像,制定復(fù)雜的激光采樣模式

             
             軟件提供大的視頻窗口,顯示勾邊的、詳細(xì)的樣品圖像。用戶(hù)在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式,包括光柵線(xiàn)狀、曲線(xiàn)、隨機(jī)點(diǎn)、任意尺寸網(wǎng)格或預(yù)先編制的模式。即使是形狀怪異的結(jié)構(gòu),采用 的模式工具也可選定,并分析其元素或同位素。

             
             
             
             

            雙照相系統(tǒng)掃描樣品

            J100 的兩個(gè)相機(jī)提供廣角和放大的樣品圖像。 允許用戶(hù)先獲取樣品的廣角圖像,然后在圖像上掃視不同的位置,高倍放大選定點(diǎn)。
             
             
             智能氣流控制,zui大限度地獲取ICP-MS等離子體的穩(wěn)定性和分析性能
            具備智能輸送和補(bǔ)充氣控制功能,使每種氣體按預(yù)定的方式達(dá)到設(shè)定值,同步開(kāi)關(guān)確保穩(wěn)定的ICP-MS等離子體狀態(tài),防止突然冒火焰。預(yù)設(shè)閥配置可選擇氬氣或氦氣作為輸送氣或補(bǔ)充氣。
             
            “處方”功能讓系統(tǒng)自動(dòng)運(yùn)行
            用戶(hù)可將多個(gè)硬件部件運(yùn)行命令集合,并按時(shí)間順序排列,形成 “處方”。制定完成的處方,以后也可以調(diào)用。多個(gè)處方可編制成組,自動(dòng)順序執(zhí)行,使測(cè)量工作高度自動(dòng)化。
            可簡(jiǎn)單采用“recall”命令調(diào)用“處方”,重復(fù)實(shí)驗(yàn),也可復(fù)制部分“處方”,結(jié)合新的命令,完成新的采樣過(guò)程。

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