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            邁可諾技術(shù)有限公司

            主營(yíng)產(chǎn)品: 美國(guó)Laurell勻膠機(jī),WS1000濕法刻蝕機(jī),Cargille光學(xué)凝膠,EDC-650顯影機(jī),NOVASCAN紫外臭氧清洗機(jī)

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            公司信息

            聯(lián)人:
            鄧經(jīng)理
            話:
            4008800298
            機(jī):
            13681069478
            真:
            址:
            洪山區(qū)珞獅南路147號(hào)未來(lái)城A棟
            編:
            個(gè)化:
            www.mycro.net.cn
            網(wǎng)址:
            www.mycro.cn
            鋪:
            http://apwanrong.com/st119375/
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            QualiX-P1貴金屬XRF光譜儀
            貴金屬XRF光譜儀
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 型號(hào) QualiX-P1
            • 品牌 其他品牌
            • 廠商性質(zhì) 代理商
            • 所在地 北京市

            更新時(shí)間:2024-05-17 09:42:17瀏覽次數(shù):1969

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            【簡(jiǎn)單介紹】
            應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池
            XRF光譜儀– QualiX- P1非常適合貴金屬分析,是電子/電器和裝飾品加工的理想選擇。
            【詳細(xì)說(shuō)明】
            XRF光譜儀– QualiX- P1非常適合貴金屬分析,是電子/電器和裝飾品加工的理想選擇。
            分析儀的兩個(gè)主要應(yīng)用是合金測(cè)定/化學(xué)分析,土壤分析和礦物分析
            合金測(cè)定/化學(xué)分析
            XRF分析儀在確定所檢查的合金以及對(duì)樣品的構(gòu)成元素進(jìn)行化學(xué)分析時(shí)可發(fā)揮*大的潛力。樣品制備中應(yīng)清除所有灰塵,鐵銹,油脂等。如果樣品已經(jīng)清潔,則無(wú)需進(jìn)行制備,不干凈的樣品將對(duì)分析產(chǎn)生重大影響。有許多因素可能會(huì)導(dǎo)致合金樣品分析錯(cuò)誤,例如樣品大小或清潔度等因素會(huì)干擾讀數(shù)。這些因素的解決方案可以很簡(jiǎn)單,例如對(duì)樣品表面進(jìn)行涂漆或涂層,或者如果樣品尺寸太小,可以同時(shí)使用多個(gè)樣品。
             
            性能:

             

            • 超高精度,*高性能
            • 電冷卻Si-Pin半導(dǎo)體探測(cè)器代替液氮冷卻探測(cè)器
            • 專(zhuān)門(mén)開(kāi)發(fā)的軟件,界面友好
            • 自由選擇濾鏡和準(zhǔn)直儀自動(dòng)切換
            • 多變量非線性回歸程序;獨(dú)立矩陣效應(yīng)校正模型
            • 三重安全保護(hù)模式;鋼材結(jié)構(gòu)優(yōu)雅時(shí)尚
            • 手動(dòng)打開(kāi)和關(guān)閉樣品室,安全便捷
            • 信噪增強(qiáng)器(SNE ),大大提高了測(cè)量的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性
            • 內(nèi)置高分辨率攝像頭,方便用戶隨時(shí)分析樣品

             工作原理

            當(dāng)某些元素受到X射線轟擊時(shí),會(huì)發(fā)射出電子,從而使能量從外殼中釋放出來(lái)。電子可以從原子的內(nèi)殼中彈出,從而使它們從更高的層次下降。當(dāng)此事件發(fā)生時(shí),稱為特征X射線。


            X射線熒光過(guò)程
            a致輻射的x射線和特征性x射線是由電子束產(chǎn)生的,這是由XRF分析儀用X射線轟擊樣品的原子而發(fā)生的。每個(gè)電子躍遷都發(fā)射特征X射線(熒光光子),其能量等于特定元素在兩個(gè)殼之間的能量差。電子在相同元素的所有原子中具有相同的固定能級(jí),每個(gè)類(lèi)似的電子躍遷均發(fā)射相同離散能量的X射線。因此,當(dāng)電子從同一元素的原子中射出時(shí),發(fā)出的X射線是相同的。

            技術(shù)指標(biāo):
            可測(cè)元素      鉀(K?鈾(U 
            同時(shí)元素      同時(shí)分析24個(gè)元素
            測(cè)量對(duì)象      粉末,固體和液體
            測(cè)試時(shí)間      60s-300s
            能量分辨率   155±5)電子伏特
            分析精度      0.05
            管電壓        5kV?50kV
            管電流        50µA?1000µA
            檢出限        1 ppm
            環(huán)境溫度范圍  15-30°攝氏度
            相對(duì)濕度      35?70
            重量          30公斤
            工作電壓      交流110v / 220v
            箱體尺寸      310(寬)* 300(深)* 100mm(高)


            產(chǎn)品對(duì)比 產(chǎn)品對(duì)比 二維碼

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