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            電鍍分析儀
            • 電鍍分析儀

            貨物所在地:廣東深圳市

            地: 深圳

            更新時間:2025-01-13 09:38:42

            瀏覽次數(shù):70

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            電鍍分析儀
            X熒光電鍍儀器產(chǎn)品指標:
            測厚技術(shù):X射線熒光測厚技術(shù)
            測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層
            測量下限:0.003um
            測量上限:30-50um(以材料元素判定)
            測量層數(shù):10層
            測量用時:30-120秒

            電鍍分析儀

            產(chǎn)品介紹:

                新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀,采用分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器),測量精度和測量結(jié)果業(yè)界。

                電鍍分析儀采用了FlexFP-Multi技術(shù),無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。

                微移動平臺和清CCD搭配,旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計在殼體外部,觀察移動位置簡單方便。

                X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用,提了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件,無損、快速和更準確的特點,對在電子和半導體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障。

                設(shè)計更科學,軟硬件配合,機電聯(lián)動,輻射安全于國標GBZ115-2002要求。

                軟件操作具有操作人員分級管理權(quán)限,一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸,測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。

            產(chǎn)品指標:

            測厚技術(shù):X射線熒光測厚技術(shù)

            測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層

            測量下限:0.003um

            測量上限:30-50um(以材料元素判定)

            測量層數(shù):10層

            測量用時:30-120秒

            探測器類型:Si-PIN電制冷

            探測器分辨率:145eV

            壓范圍:0-50Kv,50W

            X光管參數(shù):0-50Kv,50W,側(cè)窗類;

            光管靶材:Mo靶;

            濾光片:3種自動切換;

            CCD觀察:260萬像素

            微移動范圍:XY15mm

            輸入電壓:AC220V,50/60Hz

            測試環(huán)境:非真空條件

            數(shù)據(jù)通訊:USB2.0模式

            準直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm

            軟件方法:FlexFP-Mult

            標準配件

            樣品固定支架1支

            窗口支撐薄膜:100張

            保險管:3支

            計算機主機:品牌+雙核

            顯示屏:19吋液晶

            打印機:噴墨打印機

            黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
            金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
            主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機構(gòu);電鍍行業(yè)。

             

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