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            無(wú)鹵元素檢測(cè)儀
            • 無(wú)鹵元素檢測(cè)儀

            貨物所在地:廣東深圳市

            更新時(shí)間:2025-03-28 11:08:58

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            無(wú)鹵元素檢測(cè)儀
            分析方法:綜合應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法。
            多種數(shù)據(jù)算法,根據(jù)不同基體樣品,配備不同算法,提儀器測(cè)試度。

            無(wú)鹵元素檢測(cè)儀

            S6000產(chǎn)品介紹

            ² S6000配置性能Si-PIN半導(dǎo)體探測(cè)器,達(dá)到性能的分析效果

            配置性能進(jìn)口Si-PIN探測(cè)器,與佳的垂直照射的光路系統(tǒng)和多組復(fù)合濾光片的組合,實(shí)現(xiàn)了廣范圍的測(cè)試需求,靈敏度的分析限。選配的SDD探測(cè)器能夠?qū)崿F(xiàn)從Na元素更低能量范圍的測(cè)試要求。新型的Si-PIN探測(cè)器能量分辨率出色,可達(dá)145ev,分析元素時(shí)減少了譜峰重疊帶來(lái)的低能峰的物理干擾影響,提升了分析結(jié)果的準(zhǔn)確可靠性;具有速通道的脈沖分析器能夠接收2萬(wàn)以上的數(shù)率的脈沖信息,增強(qiáng)了測(cè)試結(jié)果的重復(fù)可靠性;電子制冷無(wú)需擔(dān)憂操作不慎帶來(lái)的損害。

            ² 體驗(yàn)式的操作界面和簡(jiǎn)便的導(dǎo)航菜單,

            從新視覺方面的思考設(shè)計(jì)的體驗(yàn)式的操作界面,從初級(jí)測(cè)試人員,到專業(yè)人員或?qū)悠焚|(zhì)管理者,都能得心應(yīng)手的便捷操作,帶來(lái)一種體驗(yàn)式的工作界面,更快捷,更簡(jiǎn)化。多種測(cè)試結(jié)果的輸出格式,供應(yīng)商物料的篩選統(tǒng)計(jì),可視化的譜圖縮放查看,明了的譜峰對(duì)比功能,常規(guī)的數(shù)據(jù)備份和的導(dǎo)入等等功能都可以滿足在質(zhì)量和品質(zhì)部門對(duì)測(cè)試結(jié)果的判定便捷性。

            1. 從軟硬件的設(shè)計(jì)上帶來(lái)的便捷

            通過熱源分析和空氣動(dòng)力學(xué),合理布局和降溫,保證光管和探測(cè)器有效的散熱,同時(shí)降低了噪音。

            軟件功能的可操作性

             EDX-S6000其他技術(shù)參數(shù)

            3.1. 分析元素:探測(cè)器可分析Na~U之間元素。

            3.2. 分析時(shí)間:120s(支持自定義設(shè)置)。

            3.3. 配置RoHS檢測(cè)分析模型,無(wú)鹵分析模型。

            3.4. 軟件界面簡(jiǎn)潔,模塊化設(shè)計(jì),功能清晰,易操作。

            3.5. 軟件擁有數(shù)據(jù)一鍵備份,一鍵還原功能,數(shù)據(jù)導(dǎo)入導(dǎo)出記錄等,保護(hù)用戶數(shù)據(jù)安全。

            3.6. 分析方法:綜合應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法。

            3.7. 多種數(shù)據(jù)算法,根據(jù)不同基體樣品,配備不同算法,提儀器測(cè)試度。

            3.8. 譜圖疊加對(duì)比功能可以很方便的進(jìn)行歷史譜圖與現(xiàn)測(cè)譜圖的對(duì)比,從而發(fā)現(xiàn)來(lái)料的變化趨勢(shì),建立更的風(fēng)險(xiǎn)防范能力。

             產(chǎn)品增值服務(wù)

            4.1. 不同權(quán)限用戶登錄管理操作

            可以選擇管理員和操作員兩種權(quán)限用戶登錄,系統(tǒng)自動(dòng)記錄不同人員所測(cè)試過的樣品情況,以便追溯。

            4.2. 樣品測(cè)試結(jié)果跟蹤控件

            可以對(duì)測(cè)試的樣品進(jìn)行分類選擇,例如供應(yīng)商,種類,拆分號(hào)等信息,結(jié)果統(tǒng)計(jì)時(shí)選擇不同的信息可以歸類統(tǒng)計(jì),以便跟蹤同一供應(yīng)商或者同一物料的長(zhǎng)期狀態(tài)。

            4.3. 選配增加鍍層厚度檢測(cè),確認(rèn)供應(yīng)商提交的鍍層產(chǎn)品質(zhì)量合格。

             重要部件配置

            5.1. 采用Si-Pin分辨率達(dá)145ev進(jìn)口探測(cè)器。可以選配126ev分辨率的SDD探測(cè)器。

            5.2. 50kV1mA的激發(fā)電源,設(shè)計(jì)連續(xù)工作壽命5年以上。

            5.3. 50KV1mA的X射線發(fā)生器,鈹窗厚度200um,設(shè)計(jì)連續(xù)工作壽命15000小時(shí)以上。

            5.4. 濾光系統(tǒng)為復(fù)合的5種濾光片組合,系統(tǒng)自動(dòng)切換。

            5.5. 準(zhǔn)直器為3種規(guī)格配置:1mm,3mm,5mm。

             儀器其他規(guī)格參數(shù)

            6.1. S6000改觀尺寸:長(zhǎng)寬550×330×430mm;

            6.2. 樣品腔尺寸:長(zhǎng)寬435×245×145mm;

            6.3. S6000凈重38kg;環(huán)境溫度10-25℃;

            6.4. 額定功率280W;

            6.5. 樣品支撐薄膜厚度6um;

            6.6. 電腦控制連接方式USB

            無(wú)鹵元素檢測(cè)儀

             

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