傳輸速率 bis	發(fā)送碼組數(shù)（組）
傳輸速率 bis	背靠背連接	單項損傷下	綜合損傷下
300	≥1000	≥1000	≥100
600	≥1000	≥1000	≥200
1200	≥1000	≥1000	≥400
2400	≥1000	≥1000	≥800
4800	≥1600	≥1600	≥1600
9600	≥3200	≥3200	≥3200
14400	≥4800	≥4800	≥4800

　　f. Modem測試器自動測出被測Modem的錯誤比特數(shù)目，比特差錯率應符合YD/T588的要求。

7.2 Modem抗噪聲能力的測試

　　a. 測試連接如圖3；

　　b. 音頻信道模擬器按YD/T 588的規(guī)定加隨機噪聲，采用等效于3kHz帶寬平坦特性的濾波器，然后按7.1條的a及c~e步驟進行，比特差錯率應符合YD/T588的規(guī)定。

7.3 綜合損傷條件下的比特差錯率測試

　　a. 測試連接如圖3；

　　b. 音頻信道模擬按表3規(guī)定加綜合損傷參數(shù)，然后按7.1節(jié)的a及c～e項步驟進行測試，比特差錯率應符合YD/T 588的規(guī)定。

表2

綜合損傷分組項目		1	2	3
綜合損傷分組項目		≤4.8kbps	≤9.6kbps	≤14.4kbps
衰減/群時延失真 dB/ms		見表3
信噪比，dB		25	30	35
2次或3次諧波衰減 dB		25	35	40
相位抖動（p-p）（50Hz）		10°	10°	5°
頻率偏移，Hz		±5	±5	±5
量化失真，dB		30	30	30
回波衰減 dB	近端（0ms）	－	10	10
回波衰減 dB	遠端（100ms）	－	10	10

表3

頻率 Hz	衰減失真 dB	群時延失真 ms
300 500 600 800 1000 1800 2600 2800 3000	3.5 1.5 － 0 － 3.5 － 10.0 13.5	－ 3.0 1.5 － 0.5 0 0.5 3.0 －

7.4 接收靈敏度的測試

　　a. 電路連接如圖3；

　　b. 測量Modem發(fā)信電平并據(jù)此調(diào)整模擬器的發(fā)信點電平；調(diào)整信道模擬器的衰減值，使收信電平為-43dBm（交換線方式）或－26dBm（專線方式）

　　c. 音頻信道模擬器不加其他傳輸損傷，被測Modem與參考Modem應能正常建立接續(xù)；

　　d. 增加模擬器的衰減，使收信電平逐步下降至Modem的載波中斷，此時的電平應在－45～－48dBm（交換線方式下）或－28～－31dBm（專線方式下）范圍內(nèi)，并且應滿足電路由斷開到接通時的電平比由接通到斷開時的電平至少高2dB的要求。

8 環(huán)境適應性試驗

　　本標準有關(guān)環(huán)境試驗方法的術(shù)語及總原則符合GB2421、GB2422的有關(guān)規(guī)定。所用試驗設備、儀表符合GB2423的有關(guān)規(guī)定。

　　試驗的順序應按低溫、高溫、恒溫濕熱、振動、沖擊、跌落依次進行。試驗樣品數(shù)按GB2828檢查水平Ⅱ二次抽樣方案的規(guī)定進行抽取。被測Modem在作環(huán)境適應性試驗前的初檢及試驗后的檢測按本標準7.3條中的方法進行，并進行外觀檢查。

8.1 低溫試驗

8.1.1工作溫度下限試驗

　　按照GB 2423.1試驗Ad：“散熱試驗樣品的溫度漸變的低溫試驗方法”進行。電源電壓：220V。

　　a. 初檢被測Modem合格后再進行以下步驟。

　　b. 將被測Modem置遠程數(shù)字環(huán)回方式，用音頻線連通兩臺被測Modem，放入試驗箱內(nèi)將箱溫調(diào)整至＋5±3℃，持續(xù)2h后觀察，測試環(huán)回方式工作應正常。

8.1.2存儲溫度下限試驗

　　按GB2423.1試驗Ab：“非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗方法”進行。

　　a. 使被測Modem處于非工作狀態(tài)。置于箱內(nèi)。為防止結(jié)霜和凝露，允許用聚乙烯薄膜包裝設備。

　　b. 將試驗箱的溫度下降至25±3℃，持續(xù)2h。

　　c. 待溫度自然恢復至3.12條規(guī)定的環(huán)境條件下（恢復時間zui少1h）進行zui后檢測。

8.2 高溫試驗

8.2.1工作溫度上限試驗

　　按照GB 2423.2試驗Bd：“散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗方法”進行。電源電壓：220V。

　　a. 被測Modem經(jīng)初檢合格后進行以下步驟。

　　b. 將被測Modem置遠程數(shù)字環(huán)回方式，用音頻線將兩臺Modem連通，放入試驗箱中調(diào)整箱溫至40±2℃，持續(xù)2h后觀察，測試環(huán)回方式工作正常。

8.2.2存儲溫度上限試驗

　　按GB 2423.2試驗Bb：“非散熱樣品溫度漸變的高溫試驗方法”進行。

　　a. 使被測樣品處于非工作狀態(tài)，置于箱內(nèi)；

　　b. 將試驗箱的溫度調(diào)整至55±2℃，持續(xù)16h；

　　c. 高溫試驗結(jié)束，待自然恢復至3.1條規(guī)定的環(huán)境條件下（恢復時間至少1h），進行zui后檢測。

8.3 恒定濕熱試驗

8.3.1工作條件下的恒定濕熱試驗

　　按GB2423.3試驗Ca：“恒定濕熱試驗方法”進行。

　?、俦粶yModem經(jīng)初檢合格后進行以下步驟；

　?、趯⒈粶yModem置遠程數(shù)字環(huán)回方式，用音頻線連通兩臺Modem放入試驗箱中，調(diào)整箱溫至40±2℃、相對濕度至（90±3）%，持續(xù)2h后觀察，仍應保持環(huán)回方式正常工作狀態(tài)。

8.3.2存儲條件下的恒定濕熱試驗

　　按GB 2423.3試驗Ca進行。

　　a. 被測設備處于非工作狀態(tài)；

　　b. 將被測設備置于試驗箱內(nèi)，調(diào)整箱溫至40±2℃、相對濕度至（93±3）％，持續(xù)時間48h；

　　c. 試驗結(jié)束，待恢復3.1條規(guī)定的正常溫度保持2h之后，進行zui后檢測。

8.4 振動試驗

　　按GB 2423.10試驗Fc“振動（正弦）試驗方法”進行。

　　a. 被測設備處于非工作狀態(tài)；

　　b. 按GB 2423.10的要求將被測設備固定在試驗臺上；

　　c. 振動試驗條件：

　　初始和zui后振動響應檢查：掃頻范圍為5～35Hz；掃頻速率為每分鐘1個倍頻程；驅(qū)動振幅為0.15mm。

　　定額耐久試驗：驅(qū)動振幅為0.15mm，持續(xù)時間為10h。

　　掃頻耐久試驗：頻率范圍為5～35～5Hz；驅(qū)動振幅0.15mm；掃頻速度每分鐘不大于1個倍頻程，循環(huán)次數(shù)為二次。

　　注：驅(qū)動振幅為峰值。

　　d. 試驗結(jié)束后，進行zui后檢測。

8.5 沖擊試驗

　　按GB 2423.5試驗Ea：“沖擊試驗方法”進行。

　　a. 使被測設備處于非工作狀態(tài)。

　　b. 將被測設備按GB 2423.5的要求固定安裝在試驗臺上，沖擊波形為半正弦，加速度為300m/s²，持續(xù)時間11±1ms，沿Modem三個軸向任選一面，每面各沖擊一次。

　　c. 試驗結(jié)束后，進行zui后檢測。

8.6 跌落試驗

　　a. 將被測設備進行安始檢測合格后，將其裝入包裝盒內(nèi)，使其處于準備運輸狀態(tài)。

　　b. 按GB 4857.2中2.1條表中條件6的規(guī)定進行預處于4h。

　　c. 按GB 4857.5中3.5.2.1.a的要求，將包裝件距離水泥地面800mm高處平行跌落，前、后、左、右、底五面各作一次。

　　d. 試驗結(jié)束后，包裝盒應無明顯的變形和損壞。從盒中取出設備進行zui后檢測。

9 可靠性試驗

9.1 試驗環(huán)境

　　溫度：15～35℃

　　相對濕度：40％～90％；

　　大氣壓力：86～106kPa；

　　電源電壓：220±10％V；

　　上限電壓占試驗時間的25％；

　　下限電壓占試驗時間的25％；

　　標稱電壓占試驗時間的50％。

9.2 試驗方案

　　a. 本標準優(yōu)選GB 5080.7中試驗方案4：7，方案的主要特征如表5。

　　b. 失效判決如圖5判決圖及表4判決表所列。

圖5 判決圖

表4 判決表

相關(guān)失效數(shù)	累積相關(guān)試驗時間（m₀的倍數(shù)）
相關(guān)失效數(shù)	拒收（等于或小于）	接收（等于或大于）
0 1 2	－－ 0.12	0.89 1.44 1.50

　　c. 設備在現(xiàn)場使用中由于內(nèi)部元器件質(zhì)量差等原因引起的失效稱為相關(guān)失效，通常指正常運行受到破壞并導致撤換零部件的停機故障或差錯，音頻Modem的相關(guān)失效主要指下述情況：

　　--通過指令或按鍵操作使其從聯(lián)機狀態(tài)轉(zhuǎn)為命令狀態(tài)而不能實現(xiàn)；

　　--一臺呼叫，另一臺應答，用人工或指令操作而不能連通；

　　--在電源電壓變動時或正常操作下的不正常斷線（載波丟失）事故；

　　--Modem電源故障造成的停機事故。

　　如果重新清除后能恢復正常，則上述情況每發(fā)生3次計一次相關(guān)失效。

　　由同一臺設備同一因素產(chǎn)生的相關(guān)失效，只計算一次。

9.3 產(chǎn)品抽樣

　　在可靠性試驗時，應在交驗合格的產(chǎn)品中，按照GB 2829中規(guī)定的判定水平Ⅱ、一次抽樣方案進行抽樣。

9.4 試驗方法

　　將每兩臺抽樣設備以zui高傳輸速率、按遠程數(shù)字環(huán)回方式對通，每隔1h，觀察設備工作是否保持正常。

9.5 試驗判決

　　若可靠性以平均*時間（MTBF）來表征、設MTBF（m₁）值為x小時，則按本標準表4、表5或圖5的參數(shù)及判定范圍，能夠作出判定的試驗總臺時zui少為：

　　1.1×D_m×m₁=1.1×3×x＝3.3x（h）

　　當試驗總臺時超過3.3x小時而相關(guān)失效數(shù)不超過1次時，即可判定本次測試的設備符合原定可靠性（平均*時間）的要求。此時用戶及生產(chǎn)廠家承擔的實際風險均不超過20％。否則應繼續(xù)試驗，試驗應保持到總試驗時間及總失效數(shù)均能按圖5或表4作出接收或拒收判決為止。

　　多臺樣品受試時，每臺的試驗時間不得少于所有樣品平均試驗時間的一半。

9.6 可靠性試驗選用方案

　　GB 5080.7中的4：7方案為可靠性驗證試驗的優(yōu)選方案。符合GB 5080.7規(guī)定的其他方案可作為選用方案。

表5

方案編號	預期風險率		鑒別比 D_m	m＝ m₀時作出判定的期望時間	實際風險
方案編號	生產(chǎn)方風險 α	使用方風險 β	m₀/ m₁	m₀的倍數(shù)	m＝ m₀ α₁	m＝ m₁ β₁
GB5080.7中4：7	20％	20％	3	1.1	18.2％	19.2％

　　注：實際風險偏離預期風險是因試驗方案中采用近似與截尾所致。

　　附加說明：

　　本標準由中華人民共和國郵電部提出。

　　本標準由郵電部電信傳輸研究所歸口。

　　本標準由郵電部電信傳輸研究所負責起草。

　　本標準主要起草人柳華棟。

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