5.1.1 Ⅰ型燈是適用的，但Ⅰ型燈有多種不同的輻射光譜分布可供選擇，通?？蓞^(qū)分為UV-A340、UV-A351、UV-A355和UV-A365，名稱數(shù)字表示發(fā)射峰的特征波長（納米）。其中UV-A340更能模擬日光的300～340nm光譜分布，采用不同光譜的燈組合時，還有使試樣表面輻照均勻的規(guī)定，例如使試樣繞燈列連續(xù)移位。

5.1.2 Ⅱ型燈發(fā)射光譜分布具有接近313nm汞線的峰值，在日光截止波長300nm以下有大量的輻射，可引起材料在戶外不發(fā)生的老化。這種燈可在雙方同意下采用，但協(xié)商的意見應在試驗報告中詳述。

5.1.3 多數(shù)熒光燈在使用過程中輸出光能會逐漸衰減，應要按設備廠家關于使用方法要求的說明保持所需要的輻射。

5.2 暴露室

5.2.1 暴露室可有不同的形式，但應以惰性材料構成，并能提供符合5.1.3的均勻輻射以及控制溫度的裝置，需要時應能使試樣表面凝露或提供噴水，或者能提供工作室內控制濕度的方法。

5.2.2 試樣的安裝應使暴露面處于*的輻照范圍內，正對試樣端部160㎜范圍和燈管排列面邊上50㎜范圍的試樣架四周邊緣區(qū)不作有效輻射區(qū)范圍，要使樣品能有均勻的輻照和溫度，可規(guī)定燈管換位和試樣重排的方法。

5.3 輻射計

不強制要求使用輻射計監(jiān)測輻照強度和試樣采用輻照輻照計，如采用某一種輻射計，則應符合本系列標準GB/T 16422.1-1996的5.2要求。

5.4 黑標準溫度計或黑板溫度計

黑標準溫度計或黑板溫度計應符合GB/T16422.1-1996的5.1.5要求。

5.5 供濕裝置

5.5.1 在設備中通過濕氣冷凝機使試樣暴露面凝露潤濕。濕氣是由設置在試樣架下方的容器內的水加熱而產(chǎn)生的。

5.5.2 當設備不符合5.5.1時，可采取提供控制暴露室內相對濕度的方法，或者用純水或模擬酸雨的水溶液噴淋試樣的方法。用水參照GB/T 9344-88要求。

5.6 試樣架

試樣架應以不影響試驗結果的惰性材料制成，背板的存在及其所用材料會影響試樣的老化結果。因此，背板的采用應由雙方商定。

5.7 評價性能變化的設備

根據(jù)要求監(jiān)測的性能項目，按照國家標準的規(guī)定選用儀器設備（見GB/T15596）。

6試樣

見GB/T 16422.1的規(guī)定。

7暴露條件

7.1 概況

試樣表面溫度是一個重要的暴露參數(shù)，一般，溫度高會使聚合物降解過程加快，允許的試驗溫度應根據(jù)受試材料和老化性能評價指標而定。

熒光紫外燈發(fā)出的紅外線比氙燈和碳弧燈少，試樣表面的加熱作用基本上是由熱空氣對流形成的。因此，黑板溫度計、黑標準溫度計、試樣表面和暴露室空氣之間的溫差是很小的。

推薦以下兩種暴露方式，暴露方式1和2分別相應于5.5.1和5.5.2所述的設備。經(jīng)協(xié)商也可采用其他方式，但應在試驗報告中說明暴露條件。

7.2 暴露方式1

試樣經(jīng)一段光暴露期后，繼之為無輻照期（其時溫度發(fā)生變化和在試樣上形成凝露）的循環(huán)試驗。試驗期按有關標準規(guī)定，如無規(guī)定循環(huán)條件，推薦采用下述循環(huán)：

在黑標準溫度60℃±3℃下輻照暴露4h或8h，然后，在黑標準溫度50℃±3℃下無輻照冷凝暴露4h。

注：有些聚合物（例如PVC）的老化降解對于溫度很敏感，這種情況下建議采用低于60℃的輻照暴露溫度（例如50℃）以模擬較冷的氣候。

選用輻照暴露繼之冷凝暴露的程序時，可允許的輻照或冷凝暴露期zui短為2h，以保證各暴露期條件達到平衡。

7.3 暴露方式2

試樣連續(xù)進行輻照暴露且有定時噴水的循環(huán)試驗。試驗期按有關標準規(guī)定。如無規(guī)定，推薦如下的試驗條件：

在黑標準溫度50℃±3℃，空氣相對濕度（10±5）﹪條件下輻照暴露5h，然后，在黑標準溫度20℃±3℃下繼續(xù)輻照暴露并噴水1h。

8 試驗步驟

8.1 安放試樣架，使試樣暴露面朝向光源。如需要，用黑色平板填補所有空處以保證均勻的暴露條件。

8.2 按選定的條件和程序以及要求的循環(huán)次數(shù)連續(xù)進行試驗，維護設備和檢查試樣的間斷時間應盡量縮短。

9暴露試驗報告

按照通則，見GB/T 16422.1。

附錄 A

（提示的附錄）

典型的熒光紫外燈輻射光譜分布

A1總則

A1.1 可采用各種不同的熒光紫外燈進行試驗。本附錄介紹典型的燈。其他燈或組合燈也可采用。本附錄介紹的燈發(fā)射的紫外光總能量和它們的光譜各有不同，它們存在的差別會使暴露結果有很大的差異，因此，在試驗報告中說明燈的類型是非常重要的。

A1.2 本附錄所示的輻射光譜分布僅僅是代表性的，并不意味著可以用來計算或估計試樣所受的總輻照量。試樣真實的輻照量將取決于燈的型號、制造商、燈的使用時間、試樣與燈的距離以及暴露室內空氣的溫度。

A2典型的光譜輻照數(shù)據(jù)

表A1所示的數(shù)據(jù)是安裝在暴露架平面上的樣品所接受到的有代表性的光譜輻照度。

表A1 試樣表面的輻照度 W·m^-2

光譜波帶 nm	A型燈峰值340nm	Ⅰ型燈峰值351nm	Ⅱ型燈峰值313nm	組合燈
270～300 301～320 321～360 361～400	0.1 3.0 25.1 11.0	0 0 0.8 22.6 12.7	0 5.2 13.1 12.1 1.1	0 0.3 3.0 22 18
注：本表所列數(shù)據(jù)僅是初步的測定值。ASTM的G03（非金屬材料耐久性）工作組正在進一步的工作，以便在熒光紫外燈輻射光譜方面探求更，技術上更可靠的數(shù)據(jù)。

A3燈的型號

A3.1 Ⅰ型燈

A3.1.1 大多數(shù)試驗場合推薦采用Ⅰ型燈。圖A1給出一種通常采用的Ⅰ型燈與夏天中午日光光譜分布的比較。這種燈在340 nm處有一個發(fā)射峰。

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