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            S1024DW大阱深探測(cè)器光譜儀
            • S1024DW大阱深探測(cè)器光譜儀

            貨物所在地:上海上海市

            更新時(shí)間:2025-03-12 21:00:01

            瀏覽次數(shù):1180

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            大阱深獲得高信噪比

            靈敏度高達(dá)0.00001個(gè)吸光度單位

            S1024DW大阱深探測(cè)器光譜儀采用1024像元光電二極管陣列探測(cè)器,用于需要高信噪比的測(cè)量。通過(guò)S1024DW可以觀察到小于0.00001個(gè)吸光度單位的變化,適合高亮度的應(yīng)用。

             “X”選項(xiàng):超大阱深探測(cè)器

            S1024DW是標(biāo)準(zhǔn)阱深光譜儀,其二極管陣列探測(cè)器的信噪比為25001。S1024D具有更大的阱深,信噪比為80001。

            理想的高光強(qiáng)應(yīng)用光學(xué)平臺(tái)

            S1024DW應(yīng)用“USB”(也稱作“S”)系列光譜平臺(tái),可以根據(jù)具體不同的應(yīng)用來(lái)配置光學(xué)平臺(tái)。具體選項(xiàng)有入射孔徑、探測(cè)器附件、濾光片及光柵等等。S1024DW光學(xué)平臺(tái)的操作和USB4000光學(xué)平臺(tái)很相似。S1024DW光學(xué)平臺(tái)通過(guò)光纖采集光信號(hào)并色散到1024個(gè)高靈敏度光電二極管組成的陣列上,而在USB4000中采用的是3648像元的CCD陣列。

            可集成的系統(tǒng),適合多點(diǎn)采樣

            S1024DW光譜儀的主通道上可以附加多至7個(gè)輔助通道用以多點(diǎn)采樣,可以用來(lái)擴(kuò)展探測(cè)的波長(zhǎng)范圍或監(jiān)視參考光譜。所有通道都通過(guò)一個(gè)ADC1000-USB A/D轉(zhuǎn)換器進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,每個(gè)通道輪流工作,總共8個(gè)光譜儀通道的數(shù)據(jù)同時(shí)采集。ADC1000-USB轉(zhuǎn)換器通過(guò)USB接口連接S1024DWPC。可以分開(kāi)購(gòu)買S1024DWADC1000-USB,或同時(shí)作為一個(gè)整體S1024DW-USB購(gòu)買。

            S1024DW系列探測(cè)器選項(xiàng)

            特性

            S1024DW

            S1024D

            探測(cè)器:

            Hamamatsu S3903 線陣二極管

            Hamamatsu S3904線陣二極管

            像元:

            1024像元

            1024像元

            像元尺寸:

            25 µm x 500 µm

            25 µm x 2500 µm

            阱深:

            31,000,000 electrons

            156,000,000 electrons

            信噪比(全掃描)

            25001

            80001

            A/D精度:

            12 bit

            16 bit

            暗噪聲:

            2 RMS

            2 RMS

            校正后線性度:

            >99%

            >99%

             

            S1024DW系列探測(cè)器附件

            型號(hào)

            描述

            L2探測(cè)器聚光鏡

            附著在探測(cè)器上的圓柱狀透鏡,用于增加光的采集效率。

            OFLV-DW

            可變長(zhǎng)通濾光片,在200-850 nm系統(tǒng)中消除高階效應(yīng)。

            OFLV-350-DW

            可變長(zhǎng)通濾光片,在350-1000 nm系統(tǒng)中消除高階效應(yīng)。

             

             

             

             

             

             

             

             

             

             

             

             

             

            規(guī)格

            尺寸:

            153.4 mm x 105.2 mm x 65.6 mm (采用 ADC1000-USB A/D轉(zhuǎn)換器)

            消除高次衍射濾光片:

            帶通和長(zhǎng)通濾光片

             

            焦距:

            42 mm (入射); 68 mm (出射)

            功耗:

            180 mA @ 5 VDC S1024DW & D主通道) 140 mA @ 5 VDC S1024DW & D輔助通道)

            光學(xué)分辨率:

            ~0.3-10.0 nm FWHM (取決于光柵和入射狹縫)

            探測(cè)器:

            線性二極管陣列

            雜散光:

            600 nm時(shí) <0.05%; 435 nm時(shí) <0.10%

            探測(cè)器范圍:

            200-1100 nm

            相對(duì)靈敏度:

            USB4000CCD探測(cè)器相比,S1024DW 在紫外段約為1/30,可見(jiàn)段約為1/80

            光柵:

            14種光柵; UVNIR

            入射孔徑:

            5, 10, 25, 50, 100 or 200 µm寬狹縫或光纖(無(wú)狹縫)

            光纖連接:

            SMA905連接到0.22孔徑單芯光纖

            積分時(shí)間:

            31ms65s

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