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美國泰克 BSA系列誤碼率測試儀?
美國泰克 BSA系列誤碼率測試儀?產(chǎn)品簡介
BERTScope 誤碼率測試儀為測量串行數(shù)據(jù)系統(tǒng)的信號完整性提供了一種全新方式。 通過在眼圖分析與 BER 碼型生成之間搭起一座橋梁，您可以更迅速、更準確、更全面地執(zhí)行誤碼率檢測。 BERTScope 誤碼率測試儀系列可以簡便地隔離有問題的位和碼型順序，使用高級誤碼分析功能，進一步進行分析，實現(xiàn)*的統(tǒng)計測量深度。
主要性能指標
- 高達28.6 Gb/s的碼型發(fā)生、誤碼分析和高速BER測試能力
- 快速輸入上升時間/高輸入帶寬錯誤檢測器，準確分析信號完整性
- 物理層測試套件，支持模板測試、抖動峰值、BER輪廓和Q因子分析，使用標準或用戶自定義抖動容限模板庫進行*測試
- 集成眼圖和BER相關分析
- 選配抖動分離及定位（Jitter Map)系統(tǒng)，提供豐富的抖動解析 – 支持長碼型(如PRBS-31)
- 已獲得誤碼定位分析技術（Error Location Analysis™ ），迅速了解BER性能限制，評估確定性誤碼與隨機性誤碼，執(zhí)行詳細的碼型相關誤碼分析，執(zhí)行誤碼突發(fā)分析或無誤碼間隔分
BSA系列誤碼率測試儀 主要特點及應用
（1）經(jīng)校準的集成經(jīng)校準的集成壓力生成技術，滿足多種標準壓力接收機靈敏度和時鐘恢復抖動容限測試要求
- 最高 100MHz 的正弦抖動 (SJ) 頻率
- 隨機抖動 (RJ)
- 有界不相關抖動 (BUJ)
- 正弦干擾 (SI)
- 擴展頻譜時鐘
- PCIe 2.0 和 3.0 接收機測試
- F/2 抖動生成，執(zhí)行 8xFC和 10GBASE-KR 測試
- IEEE 802.3ba 和 32G 光纖通道測試
（2）加壓力的電眼圖測試包括：
- PCI express
- 10/40/100Gb 以太網(wǎng)
- SFP+/SFI
- OIF/CEI
- 光纖通道（FC8、FC16、FC32）
- SATA
- USB 3.1
- InfiniBand（SDR、QDR、FDR、EDR）
（3）抖動余量 (Margin) 測試、抖動容限*性模板測試
（4）集成眼圖和 BER 相關分析
應用
- 包括信號完整性、抖動和定時分析在內(nèi)的設計驗證
- 高速復雜設計方面的設計檢定
- 串行數(shù)據(jù)流和高性能網(wǎng)絡系統(tǒng)認證測試
- 設計/驗證高速I/O組件和系統(tǒng)
- 信號完整性分析 – 模板測試、峰值抖動、BER輪廓、抖動分離及定位 (Jitter Map) 和 Q 因子分析
- 設計/驗證光收發(fā)機
BSA系列誤碼率測試儀 主要技術參數(shù)
型號 | BSA85C-BSA125C-BSA175C-BSA286CL | |
數(shù)據(jù)輸出 | ||
數(shù)據(jù)率范圍 | BSA85C | 0.1 至 8.5 Gb/s |
BSA125C | 0.1 至 12.5 Gb/s | |
BSA175C | 0.5 至 17.5 Gb/s | |
BSA286CL | 1 至 28.6 Gb/s | |
格式 | NRZ | |
極性 | 正?；蚍聪?/p> | |
可變交叉點電平范圍 | 25 - 75% | |
碼型 | 硬件碼型 | 工業(yè)標準的 PRBS 碼型： 2n – 1，n=7,11,15,20,23,31 |
RAM 碼型 | 128 位~128Mb。每個 A/B 頁面中 A 或 B 各有 32Mb，共兩組 A/B 頁面。 單頁面最 大 128Mb | |
碼型數(shù)據(jù)庫 | 基于 K28.5 或 CJTPAT 碼型的 SONET/SDH, 光纖通道碼型；2n 碼型n=3,4,5,6,7,9； 2n 標記密度碼型，n=7,9,23；其他 | |
誤碼插入 | 長度 | 1、2、4、8、16、32、64長度突發(fā)序列 |
頻率 | 單個或者重復 | |
時鐘輸出 | ||
頻率范圍 | BSA85C | 0.1 ~ 8.5 GHz |
BSA125C | 0.1 ~ 12.5 GHz 1 | |
BSA175C | 0.5 ~ 17.5 GHz 1 | |
BSA286CL | 1-28.6 GHz 1 | |
除另行指明外，上升時間測量值是從20%上升到80%的時間。這些技術數(shù)據(jù)是在20分鐘預熱后獲得的。技術數(shù)據(jù)如有變 更，恕不另行通告說 1 時鐘輸出頻率在11.2 Gb/s以上的數(shù)據(jù)速率時÷2。 | ||
相噪 時鐘輸出分頻比 | <-90dbc>選項僅STR (參見時鐘路徑細節(jié)如下。) | |
數(shù)據(jù)時鐘幅度和偏置 | ||
配置 | 差分輸出，差分每一路可獨立設置端接、幅度和偏置 | |
接口 | DC 耦合，50 歐姆反向端接，3.5mm 連接器?？蛇x校準到 75 歐姆端接，其他阻抗通過 面 板輸入?？筛鼡Q的 Planar Crown® 適配器，可換為其他類型連接器。 | |
預設邏輯電平 | LVPECL、LVDS、LVTTL、CML、ECL、SCFL | |
端接電壓 | 可變，-2V~2V預設值： +1.5、+1.3、+1、0、–2 V、AC 耦合 | |
允許的幅度、端接和偏置電壓 | 參見下圖。
允許的幅度擺幅在 0.25 - 2.0 V 之間；應落在下圖陰影區(qū)域內(nèi)部。例如，SCFL 使 用 0 V 端接，在大約 0 V 和 –0.9 V 之間運行。如圖中虛線箭頭所示，它落在工作范圍 內(nèi)。
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數(shù)據(jù)時鐘波形性能 | ||
上升時間 | 25 ps max，23 ps 典型值 (10-90%)，1 V 幅度，8.0 Gb/s 速率 | |
抖動 1 Measured at designated rate with PN15 pattern, BER 10-12. | BSA85C | ≤12 psp-p TJ (@8.0 Gb/s) 典型值 ≤700 fs RMS 隨機抖動 (@8.0 Gb/s) 典型值 |
BSA125C, BSA175C | <500 fs RMS 隨機抖動 (@10.3125 Gb/s) 典型值l | |
BSA286CL | ≤8 psp-p TJ (@28.05 Gb/s) 典型值 ≤300 fs RMS 隨機抖動 (@28.05 Gb/s) 典型值 | |
時鐘/數(shù)據(jù)延遲 | ||
范圍 | 以下情況全部大于 1 比特周期 ≤1.1GHz 30 ns >1.1GHz 3 ns | |
分辨率 | 100 fs | |
自校準 | 在時間測量時，當溫度或者比特率改變，推薦進行儀器自校準。校準過程小于 10s。 | |
外形尺寸 | 220×394×520（高×寬×厚） | |
物理特性 | ||
重量 | 25kg(僅限儀器)；34.5kg(毛重) | |
電源 | 460 W，100 至 240 VAC (±10%)，50 至 60 Hz | |
環(huán)境特征 | 暖機時間20 分鐘 工作溫度范圍10℃ 至 35℃（50℉ 至 95℉） 工作濕度無水汽凝結(jié)，35℃（95℉），15 - 65% 證書EU EMC Directive (CE-Marked)，LVD 低壓指令，US Listed UL61010-1，加 拿大認證 CAN/CSA61010-1 | |
BSA系列誤碼率測試儀 訂貨信息
BERTScope BSA 系列誤碼率分析儀 所有型號包括：用戶手冊，電源線、鼠標，三條低損耗短電纜 | |
BSA85C | 單通道 BERTScope 8.5 Gb/s 誤碼率分析儀 |
BSA125C | BERTScope 12.5 Gb/s 誤碼率分析儀 |
BSA175C | BERTScope 17.5 Gb/s 誤碼率分析儀 |
BSA286CL | BERTScope 28.6 Gb/s 誤碼率分析儀 |
BSA286CL-260選項：CA | BERTScope 選項；把 BSA260C 轉(zhuǎn)換成 BSA286CL（序列號范圍：280500 - 280633， 減去 280619 和 280629） |
BSA286CL-260選項：CB | BERTScope 選項；把 BSA260C 轉(zhuǎn)換成 BSA286CL（序列號范圍： 280634 - 280699，加上 280619 和 280629） |
BSA286CL-260選項：CC | BERTScope 選項；把 BSA260C 轉(zhuǎn)換成 BSA286CL（序列號范圍：280700 及以上） |
時鐘恢復儀器 | |
CR125A CR175A | 12.5 Gb/s 時鐘恢復儀器 17.5 Gb/s 時鐘恢復儀器 |
CR286A | 28.6 Gb/s 時鐘恢復儀器 |
數(shù)字預加重處理器 | |
DPP125C | 1~12.5Gb/s 3 階和選項 4 階數(shù)字預加重處理器 |
BSA系列誤碼率測試儀儀器選件
BSA 選項
選項 F2：在 8G/10.3125G 速率的 F/2 抖動生成（需要 STR 選項）
選項 STR：壓力信號產(chǎn)生（包括 ECC、MAP、PL、XSSC、JTOL）
選項 XSSC：擴展 SSC 選項（包含在 STR 選項中）
選項 PCISTR：增加PCIe Gen2擴展壓力生成
選項 J-MAP：增加抖動分離軟件
選項 ECC：增加誤碼糾錯仿真軟件（包含在 STR 選項中）
選項 JTOL：增加抖動銅線模板測試軟件（包含在 STR 選項中）
選項 LDA：增加實時數(shù)據(jù)分析軟件
選項 MAP：增加誤碼映射分析軟件（包含在 STR 選項中）
選項 PL：增加物理層測試套件（包含在 STR 選項中）
選項 PVU：增加 PatternVu 均衡處理軟件
選項 SF：增加符號過濾軟件（用于 STR） 1
選項 SLD：增加壓力在線數(shù)據(jù)軟件選項
選項 CA1：提供單次校準服務或按校準間隔校準
選項 C3：校準服務 3 年
選項 R3：3 年維修服務（包括保修）
選項 R3DW：維修服務覆蓋 3 年（包括產(chǎn)品保修期）。3 年期限從客戶儀器購買時間開始計算
1 本型號包含在選項 STR 中。
時鐘恢復儀器選項
選項 | 說明 | CR125A | CR175A | CR286A |
PCIE | PCIe PLL 分析（需要 12GJ，僅工作在 2.5G 和 5G） | X | X | X |
PCIE8 | PCIe PLL 分析（需要 12GJ，僅工作在 2.5G、5G 和 8G） | X | X | X |
HS | 增加高靈敏度時鐘恢復 |
| X | X |
XLBW | 增加擴展環(huán)路帶寬 | X | X | X |
12GJ | 在 CR125A 中增加 11.2G 頻譜分析 | X |
|
|
17GJ | 在 CR175A 中增加 11.2G 頻譜分析 |
| X |
|
28GJ | 在 CR286A 中增加 11.2G 頻譜分析 |
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| X |
CA1 | 提供單次校準服務或按校準間隔校準 | X | X | X |
C3 | 校準服務 3 年 | X | X | X |
R3 | 3 年維修服務（包括保修） | X | X | X |
R3DW | 維修服務覆蓋 3 年（包括產(chǎn)品保修期）。3 年期限從客戶儀器購買時間開始計算 | X | X | X |
數(shù)字預加重處理器選項
選項 4T：4 階數(shù)字預加重處理器
選項 ECM：眼圖張開器，時鐘復用器，時鐘倍頻器
選項CA1：單次校準或功能校驗
選項C3：校準服務 3 年
選項R3：3 年維修服務（包括保修）
選項R5：5 年維修服務（包括保修）
選項R3DW：維修服務覆蓋 3 年（包括產(chǎn)品保修期）。3 年期限從客戶儀器購買時間開始計算。
推薦附件
LE160/LE320：16 Gbps / 32 Gbps，2通道線性均衡器
CR125ACBL：成套高性能延遲匹配電纜(SSC應用中BERTScope和CRU要求)
100PSRTFILTER：100 ps 上升時間濾波器
BSA12500ISI：差分 ISI 板
PMCABLE1M：精密相位匹配電纜對，1 m
SMAPOWERDIV：SMA 電源分路器
BSARACK：BSA-機架安裝套件
BSAUSB31：帶電纜的儀器交換機及自動軟件套件(支持USB 3.1 5和10Gb/s)
BSAUSB3：帶電纜的儀器交換機及自動軟件套件(支持USB 3.1 5Gb/s)
BSASWITCH：儀器交換機，帶電纜
BSAUSB3SFT：USB3自動軟件
