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            杭州科博儀器有限公司>>技術(shù)文章>>常用粒度測(cè)試方法所具有哪些優(yōu)缺點(diǎn)

            常用粒度測(cè)試方法所具有哪些優(yōu)缺點(diǎn)

            閱讀:978        發(fā)布時(shí)間:2014-11-12

            顆粒的大小稱為顆粒的粒度。顆粒是在一定尺寸范圍內(nèi)具有特定形狀的幾何體。顆粒不僅指固體顆粒,還有霧滴、油珠等液體顆粒。顆粒的概念似乎很簡(jiǎn)單,但由于各種顆粒的形狀復(fù)雜,使得粒度分布的測(cè)試工作比想象的要復(fù)雜得多。因此要真正了解各種粒度測(cè)試技術(shù)所得出的測(cè)試結(jié)果,明確顆粒的定義是很重要的。

                篩分法: 優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低、常用于大于40μm的樣品。

                缺點(diǎn):不能用于40μm以細(xì)的樣品;結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。

                顯微鏡(圖像)法: 優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單、直觀、可進(jìn)行形貌分析,適合分布窄(zui大和zui小粒徑的比值小于10:1)的樣品。

                缺點(diǎn):無法分析分布范圍寬的樣品,無法分析小于1微米的樣品。

                沉降法(包括重力沉降和離心沉降): 優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便,儀器可以連續(xù)運(yùn)行,價(jià)格低,準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好,測(cè)試范圍較大。

                缺點(diǎn):測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng),操作比較復(fù)雜。

                庫(kù)爾特法: 優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便,可測(cè)顆粒總數(shù),等效概念明確,速度快,準(zhǔn)確性好。

                缺點(diǎn):適合分布范圍較窄的樣品。

                激光法: 優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便,測(cè)試速度快,測(cè)試范圍大,重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,可進(jìn)行在線測(cè)量和干法測(cè)量。

                缺點(diǎn):結(jié)果受分布模型影響較大,儀器造價(jià)較高。

                電鏡: 優(yōu)點(diǎn):適合測(cè)試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。

                缺點(diǎn):樣品少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴。

                超聲波法: 優(yōu)點(diǎn):可對(duì)高濃度漿料直接測(cè)量。

                缺點(diǎn):分辨率較低。

                透氣法: 優(yōu)點(diǎn):儀器價(jià)格低,不用對(duì)樣品進(jìn)行分散,可測(cè)磁性材料粉體。

                缺點(diǎn):只能得到平均粒度值,不能測(cè)粒度分布。
             

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