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絕緣材料電阻值測(cè)量?jī)x本儀表是電力、郵電、通信、機(jī)電安裝和維修以及利用電力作為工業(yè)動(dòng)力或能源的工業(yè)企業(yè)部門常用而不可少的儀表。它適用于測(cè)量各種絕緣材料的電阻值及變...

絕緣油體積電阻率測(cè)定儀以國家標(biāo)準(zhǔn)GB/5654-85《液體絕緣材料工頻相對(duì)介電常數(shù)、介質(zhì)損耗因數(shù)和體積電阻率的測(cè)量》為依據(jù)，利用單片機(jī)測(cè)量技術(shù)

數(shù)顯重錘式表面電阻測(cè)試儀是通過測(cè)量防靜電產(chǎn)品的電阻，從而檢測(cè)防靜電產(chǎn)品的防靜電能力，SL-030B數(shù)顯重錘式表面電阻測(cè)試儀遵循ASTM標(biāo)準(zhǔn)D-257測(cè)試方法，測(cè)...

數(shù)字式接地電阻測(cè)試儀接地電阻 0.00～6.99Ω ±(3%讀數(shù)＋6) 0.01Ω 7.9～49.9Ω ±(2%讀數(shù)＋3) 0.1Ω 50～...

體積電阻率自動(dòng)測(cè)定儀適用標(biāo)準(zhǔn)DL421，主要用于測(cè)定絕緣油、抗燃油地體積電阻率，也可以測(cè)量其他物體的絕緣電阻。試驗(yàn)杯數(shù)：3杯。采用新型AVR單片機(jī)作為核心微處理...

200高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀器采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解決...

1600高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀器采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解...

1400高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀器采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解...

1200高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀器采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解...

1000高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀器采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解...

800高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀器采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解決...

600高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀器采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解決...

400高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀器采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解決...

200高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀器采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解決...

半自動(dòng)四探針觸屏測(cè)試儀器晶圓、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測(cè)量；選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片；新型電極設(shè)計(jì)，如電鍍銅電阻測(cè)量等；半導(dǎo)體材...

半自動(dòng)四探針觸屏測(cè)試儀器晶圓、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測(cè)量；選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片；新型電極設(shè)計(jì)，如電鍍銅電阻測(cè)量等；半導(dǎo)體材...

半自動(dòng)觸屏四探針測(cè)試儀器晶圓、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測(cè)量；選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片；新型電極設(shè)計(jì)，如電鍍銅電阻測(cè)量等；半導(dǎo)體材...

全自動(dòng)四探針電阻測(cè)試儀器晶圓、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測(cè)量；選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片；新型電極設(shè)計(jì)，如電鍍銅電阻測(cè)量等；半導(dǎo)體材...

全自動(dòng)四探針電阻測(cè)量測(cè)試儀器四點(diǎn)探針法，全自動(dòng)化運(yùn)行測(cè)量系統(tǒng)，PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理；參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)方法測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率和方塊電阻；可設(shè)定探針壓力...

1000KG自動(dòng)極片平面探頭電阻測(cè)試儀器采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電...