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微生物樣品自動重量稀釋儀型號：RAY-1微生物樣品自動重量稀釋儀用于食品、藥品、化妝品等含微生物樣品的前處理自動稀釋。儀器可自動完成對不同重量樣品的稀釋，儀器可根據(jù)稀釋比例自動加入稀釋液。規(guī)格參數(shù)：適用標準：GB4789顯示方式：液晶觸摸屏操作稀釋精度：稱重精度：0.01g分裝精度：0.1g稀釋精度：99.9%稀釋量程：稱重量程0-5Kg，包含皮重稀釋量程：10g-5Kg稀釋倍數(shù)：1-1000倍，設定自動稀釋：自動完成稀釋稀釋時間：＜30秒放液速度：950ml/min（25g樣品加225mL稀釋
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儀器特點:.封閉式過濾及開放式過濾兩種培養(yǎng)方式均可使用，并可反復使用。兩種培養(yǎng)方式（1）加培養(yǎng)基至玻璃筒內(nèi)，可作封閉式直接培養(yǎng)。（2）取出濾膜作好氧菌，厭氧菌和真菌培養(yǎng)。每次試驗一個濾頭損耗一張濾膜，其他部件均為耐用，多次使用，無廢物處理儀器體積：220mm×90mm×225mm(適合凈化臺內(nèi)操作)。濾器（濾頭）容積：100mL有刻度。儀器特點:.封閉式過濾及開放式過濾兩種培養(yǎng)方式均可使用，并可反復使用。兩種培養(yǎng)方式（1）加培養(yǎng)基至玻璃筒內(nèi)，可作封閉式直接培養(yǎng)。（2）取出濾膜作好氧菌，厭氧菌和真
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測試主副參數(shù)：Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,G-B,R-X,Z-θrad,Z-θdeg測試監(jiān)視參數(shù):Z,D,Q,θr,θd,R,X,G,B,Y,Vac,Iac,Δ,Δ%測試頻率：50Hz~200kHz(37點)頻點：50Hz，60Hz，80Hz，100Hz，120Hz，150Hz，200Hz，250Hz，300Hz，400Hz，500Hz，600Hz，800Hz，1kHz，1.2kHz，1.5kHz，2kHz，2.5kHz，3kHz，4k
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該裝置用短弧氙燈作光源，氙燈的光經(jīng)旋轉(zhuǎn)橢球?qū)捁庾V反射面max限度地會聚起來。將光纖束（或?qū)Ч獍簦┑娜肷涠税惭b在光源光束的會聚點上，使高密集度的光輻射經(jīng)光纖束（或?qū)Ч獍簦﹤鞒?。此出射光束?jīng)過配置的復眼透鏡系統(tǒng)形成面積可調(diào)的均勻照射光斑。光源采用恒流供電，因而光輸出穩(wěn)定。在光纖束（或?qū)Ч獍簦┣坝幸粋€可變光闌調(diào)節(jié)機構(gòu)，通過它可從零到max改變光的輸出。在現(xiàn)有光源中，短弧氙燈的光譜接近太陽，因而可作為日光模擬裝置進行日光試驗、太陽能電池效率測定以及其他相關(guān)試驗。該裝置輸出的色溫約為5700K，如配以給定
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作為一款中空玻璃Low-E膜面檢測儀，可從中空玻璃的任何一面進行Low-E鍍膜的鑒別，簡單的單面測試就能幫您檢測肉眼不可見的Low-E鍍膜是否正確安裝于中空玻璃中。生產(chǎn)中空玻璃時，可用于確定Low-E鍍膜的方位，以%損壞。作為一款中空玻璃Low-E膜面檢測儀，可從中空玻璃的任何一面進行Low-E鍍膜的鑒別，簡單的單面測試就能幫您檢測肉眼不可見的Low-E鍍膜是否正確安裝于中空玻璃中。生產(chǎn)中空玻璃時，可用于確定Low-E鍍膜的方位，以%損壞。作為一款中空玻璃Low-E膜面檢測儀，可從中空玻璃的任何
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波長：412nm吸收值范圍：0.000-3.500Abs精確度：≤±0.5%和±0.005A吸光度變化值：儀器自動顯示吸光度變化值△A輸入方式：輸入方式采用觸摸屏輸入，帶觸摸筆，也可外接鼠標操作。人機互動：自帶微電腦系統(tǒng)，%PC機即可操作、存儲、打印適用環(huán)境：適合野外、車載或室內(nèi)等%種場所工作存儲容量：儀器可存儲500組程序，10000條測試記錄打印功能：外接%打印機，帶中文綜合報告進樣功能：，自動進樣振蕩特點：蜂窩式平衡回旋振蕩，均勻高效進行終止液混勻振蕩工作電壓：90-260VAC，50/6
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壁柜式碎煤機振動溫度監(jiān)控系統(tǒng)是現(xiàn)場設備監(jiān)測、控制、分析的工具，碎煤機振動、溫度監(jiān)控儀主要用于連續(xù)運轉(zhuǎn)的機械設備、旋轉(zhuǎn)設備的超振、超溫的監(jiān)控保護?？梢员苊庖蛟O備運轉(zhuǎn)失常和振動幅度增大，造成設備損壞。是設備保養(yǎng)維護的監(jiān)控儀器。用戶使用過程中，可根據(jù)設備允許振動量值、溫度值設定控制值。當設備工作過程中出現(xiàn)異?，F(xiàn)象，振動值增大、溫度偏高大于所設定值時，黃色預警指示燈亮。規(guī)格參數(shù)：振動速度傳感器：電磁式靈敏度：500mv/cm/s溫度傳感器：Pt100；2-3線測量范圍：振動速度：0-50mm∕s振動位移
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夫蘭克—赫茲實驗儀是用低能電子與稀薄氣體原子相碰撞的方法使氣體原子從低能，激發(fā)到高能，通過測量電子與原子碰撞時因能量交換而引起陽，電流的變化，從而證明了原子內(nèi)部能的存在。產(chǎn)品參數(shù)：充氬夫蘭克—赫茲管夫蘭克—赫茲管供電電壓：UG1K（加速電壓）DC1.3～5V，UG2A(拒斥電壓)DC1.3～15V，UG2K（點測電壓）DC0～110V，UH（燈絲電壓）AC3V，3.5V，4V，4.5V，5V，5.5V，6.3V；鋸齒波參數(shù)：鋸齒波掃描幅度:0～6V，鋸齒波掃描頻率：50Hz，微電流測量范圍：10
