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            力森諾科科學(xué)儀器(上海)有限公司

            溫度對(duì)洗脫時(shí)間的影響 (SI-36 4D)

            時(shí)間:2025-1-10 閱讀:200
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             此色譜柱請(qǐng)配合使用抑制器法離子色譜系統(tǒng)。

            下圖是使用陰離子分析用色譜柱IC SI-36 4D分析各陰離子,分析溫度和洗脫時(shí)間的關(guān)系。溫度對(duì)于洗脫時(shí)間的影響每種離子各不相同。溫度越高,硫酸根離子的洗脫速度越慢;在40 ℃或更高溫度下,硫酸根離子和溴離子的洗脫位置互換。由于碳酸鹽峰的位置也會(huì)變化,因此當(dāng)洗脫液為25 mM氫氧化鉀水溶液時(shí),建議使用30 ℃。

            Sample: 25 μL

            1. 1.F- 0.5 mg/L
            2. 2.Cl- 3 mg/L
            3. 3.NO2- 5 mg/L
            4. 4.SO42- 10 mg/L
            5. 5.Br- 10 mg/L
            6. 6.NO3- 10 mg/L
            7. 7.PO33- 20 mg/L

            Column:Shodex SI-36 4D (4.0 mm I.D. x 150 mm)
            Eluent:25 mM KOH aq.
            (Eluent source : DionexTM EGC 500 KOH)
            Flow rate:0.7 mL/min
            Detector:Suppressed conductivity
            Column temp.:30. 35, 40, 45, 50 ℃

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