高速率、高時效的通訊手段是信息社會的重要基礎設施之一。蓬勃發(fā)展的5G通訊、無人駕駛、物聯(lián)網(wǎng)、虛擬現(xiàn)實、云計算等應用場景對光通訊帶寬提出越來越高的要求。40G/100G光傳輸已實現(xiàn)商用，400G及更高帶寬的超高速光傳輸網(wǎng)絡即將大規(guī)模商用。
在成熟的DWDM、EDFA等技術基礎上，超高速光通訊要求對光頻譜帶寬以及載波信息進行更充分的利用，才能基于現(xiàn)有光纖網(wǎng)絡、設備、技術所提供的傳輸通道成倍的擴充數(shù)據(jù)流量。相應的新技術包括各種新型相干調(diào)制技術,偏振復用、光正交頻分復用等頻譜更高密度復用技術，以及相干檢測、超高速AD/DA技術等。這些技術對光通訊光源的線寬及線寬穩(wěn)定性及振幅和位相噪聲、調(diào)制器的性能、各種無源器件對光信號的復響應、以及光纖傳輸過程中的色散、啁啾、偏振控制等都提出了非常精細的要求，對這些量的精密測量也成為超高速光通訊器件、設備、網(wǎng)絡*的手段。
多年以來，先鋒科技持續(xù)為光通訊領域的提供先進的激光測試設備，從光功率、激光模式、光器件的幾何對準，到DWDM密集波長測試、超高精度復光頻譜分析，提供豐富測試測量產(chǎn)品，助力行業(yè)伙伴高速發(fā)展。
美國BRISTOL公司是一家專業(yè)生產(chǎn)基于干涉儀的激光波長計、光頻譜儀的廠家，其團隊、技術和產(chǎn)品可朔至WDM、DWDM發(fā)端之時。從經(jīng)典的Burleigh WA系列波長計開始，一直伴隨光通訊行業(yè)的不斷發(fā)展；同時通過持續(xù)的研發(fā)改進，為工程師和生產(chǎn)線提供強有力的工具。
1. 波長計和多波長計
圖1 828A 高速波長計
在WDM、DWDM應用中，在光源、光模塊、光收發(fā)器等產(chǎn)品領域，對波長進行高精度的測量和標定是必須的手段。Bristol公司提供多方面、高性能、高性價比的產(chǎn)品，實時測量速率高可到達1kHz,測量精度可達±0.2ppm，高可以同時測量1000個信道，適用連續(xù)和調(diào)制激光。而且Bristol的全系列產(chǎn)品均內(nèi)置激光器實時校準，無需外置校準源、無需定期校準，提高測試和生產(chǎn)的效率。
在光通訊波長計領域，BRISTOL提供228系列波長計、828系列高速波長計用于單信道、TLS等光源、信號及器件測試，428、438系列多波長計用于多信道光源、信號及器件測試：
產(chǎn)品型號* | 228A | 428A | 438A | 828A |
產(chǎn)品類別 | 波長計 | 多波長計 | 多波長計 | 波長計 |
可測試激光 | 連續(xù)激光 | 連續(xù)或調(diào)制激光 | 連續(xù)或調(diào)制激光 | 連續(xù)或調(diào)制激光 |
波長范圍 | 700nm-1650nm (182-429THz) | 1270nm-1650nm (182-236THz) | 1270nm-1680nm(182-236THz) 或1000-1680nm(179-236THz) | 1250nm-1650nm (182-240THz) |
測量精度 | ±0.2ppm | ±0.2ppm | ±0.2ppm | ±0.2ppm |
(±0.3pm@1550nm) | (±0.3pm@1550nm) | (±0.3pm@1550nm) | (±0.3pm@1550nm) | |
可重復性 | ±0.1ppm | ±0.03ppm | ±0.03ppm | ±0.02ppm |
(±0.15pm@1550nm) | (±0.05pm@1550nm) | (±0.05pm@1550nm) | (±0.03pm@1550nm) | |
測量速率 | 10Hz | 4Hz | 10Hz | 1kHz |
大信道數(shù) | 1 | 1000 | 1000 | 1 |
預熱時間 | ＜15min | ＜15min | ＜15min | ＜15min |
*228B、428B、438B、828B等高性價比型號未列出
典型應用：
圖2 828A測試示例：ECDL調(diào)諧過程監(jiān)控（左）；ECDL穩(wěn)態(tài)運行測試（右）
2. 光頻譜儀（OSA）
在光通訊波段，BRISTOL提供基于干涉技術的771系列、750系列光頻譜儀，針對不同的應用需求。771系列為通用型高分辨率OSA，其中771A/B-NIR覆蓋光通訊波段，頻譜分辨率可達2GHz，波長準確度可達1pm；750系列為專為光通訊設計的快速OSA，僅需0.3秒即可提供O、E、S、C及L波段的高效頻譜分析，同時在0.07秒內(nèi)即可自動測量邊模抑制比(SMSR),遠超傳統(tǒng)光柵OSA的水平；同時針對光通訊的需求，提供功率測量等功能。
圖3 771型光頻譜儀
產(chǎn)品型號 | 771A-NIR | 771B-NIR | 750 | |
產(chǎn)品類別 | OSA | OSA | OSA | |
可測試激光 | 連續(xù), >10MHz 脈沖，或>50kHz >50ns脈沖激光 | 連續(xù)或調(diào)制激光 | ||
波長范圍 | 520-1700nm | 520-1700nm | 1260-1680nm | |
測量精度 | ±0.2ppm | ±0.75ppm | ±6.5ppm (±10pm @ 1550nm) | |
可重復性 | N/A | ±1ppm（±0.2pm @ 1550nm） | ||
光譜分辨率 | 4GHz | 25GHz (0.2nm @ 1550nm) (0.14nm @ 1300nm) | ||
光學抑制比/ 動態(tài)范圍 | >40dB | >40dB (0.7nm from peak) | ||
靈敏度 | 0.08μW | -55dBm | ||
大輸入功率 |
| +10dBm | ||
測量速率 | 2s | 0.07s 掃描時間 0.07s SMSR獲取 | ||
校準 | 內(nèi)置校準源實時校準 | |||
功率測量 | 校準精度 | ±0.5dB | ||
平坦度 | ±0.2dB | |||
線性度 | ±0.3dB | |||
偏振依賴 | ±0.4dB | |||
圖4 750型OSA 邊模噪聲測試與分析
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