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            勞厄相機(jī)基本原理介紹

            閱讀:2580      發(fā)布時(shí)間:2020-12-3
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            勞厄相機(jī)是Photonic Science公司的核心產(chǎn)品之一。近期,Photonic Science公司經(jīng)理Daniel Brau對(duì)衍射勞厄相機(jī)的工作原理進(jìn)行系統(tǒng)介紹,并且深入講解了勞厄晶體定向分析系統(tǒng)的*優(yōu)勢(shì)。
             

            勞厄技術(shù)基本原理
            勞厄技術(shù)基于反射幾何學(xué),將復(fù)色的弱X射線激發(fā)源穿過探測(cè)器打到樣品上,樣品反射X射線束,形成一組衍射點(diǎn)并直接記錄在探測(cè)器上。衍射圖形的參數(shù)對(duì)于每一個(gè)晶體都是特定的,可用于材料分析和物理生長(zhǎng)過程分析,切割具有電光特性的晶體。

            中心軸校準(zhǔn)后的藍(lán)寶石樣品勞厄斑點(diǎn)

            勞厄衍射到底是什么?
            如果我們深入研究一下勞厄相機(jī)的物理原理,可以發(fā)現(xiàn)實(shí)際上是X射線與單晶或者合金上的電子云相互作用。如果反射光滿足布拉格定律,就會(huì)被記錄在勞厄探測(cè)器上,這是一個(gè)相對(duì)來說簡(jiǎn)單的公式,它允許你根據(jù)晶體的特定方向來定位這些點(diǎn)。
            布拉格定律:當(dāng)X射線束的入射角滿足晶面間X射線路徑長(zhǎng)度的差值為波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí),就會(huì)發(fā)生相長(zhǎng)干涉,產(chǎn)生衍射光束

              

            怎樣得到勞厄衍射圖樣?
            假設(shè)實(shí)驗(yàn)時(shí),需要沿晶體方向測(cè)量 確
            度<0.1°的斜切角度。首先,通過理論模擬設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn),并檢測(cè)記錄相對(duì)于理論點(diǎn)位置的偏差。PSEL勞厄軟件內(nèi)置布拉格方程,可以準(zhǔn)確計(jì)算晶格三個(gè)角軸上定位方程。


            PSEL勞厄軟件

             
            勞厄系統(tǒng)的主要構(gòu)架是什么?
            PSEL勞厄系包含高亮度微區(qū)X射線源,低噪聲、大面積X射線探測(cè)器,以及手動(dòng)或電動(dòng)位移臺(tái)用于放置樣品。之前的勞厄相機(jī)多采用2kWX射線源,這需要配備復(fù)雜的冷卻裝置和耗電設(shè)備,PSEL公司的勞厄系統(tǒng)選用25瓦X射線激發(fā)源,有效解決上述問題。
             

            可以簡(jiǎn)單介紹一下勞厄系統(tǒng)嗎?
            PSEL公司的勞厄相機(jī)選用更小的X射線激發(fā)光源激發(fā)樣品,可檢測(cè)亞毫米級(jí)的樣品。結(jié)合大面積、高分辨率探測(cè)器,我們可以將定向精度降到0.05°。PSEL公司的勞厄系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)滿足晶片、大型鑄錠以及渦輪合金等更大的部件使用需求。


            垂直勞厄系統(tǒng)

             
            PSEL公司的勞厄相機(jī)和市場(chǎng)上的其他相機(jī)還有什么不同?
            PSEL公司的勞厄相機(jī)的X射線激發(fā)源的光束尺寸遠(yuǎn)小于市場(chǎng)上的其他相機(jī),因此可以用于分析晶粒的結(jié)構(gòu)/方向。該系統(tǒng)可以自動(dòng)獲取多達(dá)10000個(gè)大型多晶樣品的取向測(cè)量,在太陽(yáng)能電池方面,有助于了解晶粒取向?qū)﹄姵匦实挠绊憽?/span>

              

            多晶硅晶片掃描器
             

            為什么要選用PSEL勞厄相機(jī)配件?
            PSEL勞厄相機(jī)可以根據(jù)客戶的環(huán)境和要求定制??商峁┫到y(tǒng)解決方案,例如:樣品架、角度計(jì)、掃描臺(tái)等,方便用戶在轉(zhuǎn)移到合適的切割工具前,對(duì)晶體進(jìn)行常規(guī)校準(zhǔn)。
            探測(cè)器材料如CdTe,GaAs,微電子基片如GaN,壓電材料和硅片切割可實(shí)現(xiàn)批次自動(dòng)測(cè)量。PSEL勞厄相機(jī)提供的樣品架可通過軟件一次性采集多達(dá)100個(gè)樣品。
            PSEL勞厄相機(jī)可容納10-100kg樣品,可用于激光材料,大體積藍(lán)寶石等樣品檢測(cè)。
            PSEL勞厄相機(jī)配置多點(diǎn)掃描程序的高精密位移臺(tái),可以實(shí)現(xiàn)對(duì)氮化鋁等薄膜方向的控制。
             
            勞厄晶體定向系統(tǒng)

             
            您還有什么感興趣的嗎?
            PSEL公司初期是為科研客戶提供相機(jī),通過多年的市場(chǎng)推廣,已經(jīng)能面向工業(yè)客戶為其提供系統(tǒng)解決方案。不同于老式昂貴的勞厄相機(jī),本產(chǎn)品是為工業(yè)定制,目前已有超過200個(gè)系統(tǒng)在運(yùn)行。

            如果您對(duì)Daniel的問答環(huán)節(jié)感興趣,想了解更多關(guān)于我們勞厄相機(jī)的信息,可聯(lián)系我公司:北京先鋒泰坦科技有限公司!

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