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            在金相分析中圖像分析儀的應(yīng)用

            時間:2010-8-24閱讀:1417
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                近年來,隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)和體視學(xué)的發(fā)展,圖像分析儀被廣泛地應(yīng)用于金相分析中,使傳統(tǒng)的金相分析技術(shù)從定性或半定量的工作狀態(tài)逐步向定量金相分析方向發(fā)展。
            圖像分析儀在金相分析中的應(yīng)用
            1.測定脫碳層、滲碳層深度
                測定脫碳層及滲碳層深度:首先測定基體組織的鐵素體含量,然后在屏幕上劃一條平行于表面并可移動的直線,計(jì)算通過該直線的鐵素體含量,隨著直線向心部移動,當(dāng)找到與基體組織中鐵素體含量相符的區(qū)域時,該直線距表面的距離即為脫碳層或滲碳層深度。
            2.側(cè)定顯微緣織的含量
            定量地測定金屬材料中的顯微組織的百分比等參數(shù),并研究其對機(jī)械性能的影響是圖像分析儀在金相分析中的主要用途之一。例如:測定灰鑄鐵、球鐵、鑄鋼及低碳鋼中的鐵素體和珠光體的百分比;雙相鋼中的馬氏體與鐵素體的百分比;參碳淬火硬化層等。使用圖像分析儀的能很方便地完成這些工作。若對某種材料的不同基體組織進(jìn)行定量金相分析,并與其機(jī)械性能對照,可深人研究顯微組織與機(jī)械性能之間的定量對應(yīng)關(guān)系。3 晶拉度的測定
            3.測量晶粒度是金相檢驗(yàn)工作中經(jīng)常進(jìn)行的檢驗(yàn)項(xiàng)目。多年以來的檢測方法是參照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中的標(biāo)準(zhǔn)圖片,采用與標(biāo)準(zhǔn)圖片相比較的方法評定出晶粒度級別,此方法簡便、速度快,但主觀上的誤差也比較大。若采用標(biāo)準(zhǔn)GB/T6394一1986規(guī)定的另外兩種方法,即面積法和截點(diǎn)法(仲裁法),雖然可獲得準(zhǔn)確的測量結(jié)果,但這兩種方法使用起來很不方便,過程繁瑣。如果使用圖像分析儀采用截點(diǎn)法進(jìn)行晶粒度測定,則可以直接而迅速地求出晶粒度級別。
                截點(diǎn)法是通過統(tǒng)計(jì)給定長度的測量網(wǎng)格上的晶界截?cái)?shù)來測定晶粒度的,其晶粒度級別指數(shù) G的計(jì)算公式為:G= -3.2877+ 6.6439Lg(M x N/L)
                式中L—所使用的測量網(wǎng)格長度(mm)
                M—觀察用的放大倍數(shù)
                N—測量網(wǎng)格L上的截點(diǎn)數(shù)
                L\M為已知數(shù),只需測得N,圖像分析儀就可以得出晶粒度級別。在實(shí)測工作時,由于晶粒內(nèi)部可能存在各種析出物以及因腐蝕控制不當(dāng)而造成晶界斷裂,將準(zhǔn)確測定帶來一定的困難,需采用圖像分析儀中的腐蝕與膨脹功能,去除晶粒內(nèi)的析出物和對晶界進(jìn)行重建,以得到完整的晶粒圖像。
                圖像分析儀所擁有的“晶粒度評級”軟件均是采用GB/T6394一1986中的截點(diǎn)法作為晶粒度評定方法。
            4 測定非金屬夾雜物
                圖像分析儀用于分析非金屬夾雜物,主要在兩方面:其一為測定非金屬夾雜物的數(shù)量、形態(tài)、尺寸、分布等參數(shù),研究夾雜物與機(jī)械性能之間的定量關(guān)系;其二是根據(jù)GB/T10561一1989標(biāo)準(zhǔn)評定鋼中非金屬夾雜物級別。
                根據(jù)GB/T10561—1989標(biāo)準(zhǔn)編制而成的夾雜物評級軟件,其主要功能可對所要測定的夾雜物,依據(jù)GB/T10561—1989標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的4類夾雜物進(jìn)行分類,然后參照標(biāo)準(zhǔn)給予評級。

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