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            深圳市藝慈儀器有限公司>>測(cè)厚儀>>鍍層測(cè)厚儀>> Thick8000X射線膜厚SANX檢測(cè)儀

            X射線膜厚SANX檢測(cè)儀

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            • X射線膜厚SANX檢測(cè)儀
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            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 型號(hào) Thick8000
            • 品牌 SanX/三翔
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
            • 所在地 深圳市
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            更新時(shí)間:2024-01-08 20:18:35瀏覽次數(shù):702

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            X射線膜厚SANX檢測(cè)儀是通過(guò)一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)產(chǎn)生低能量的光子,俗稱為二次熒光,在通過(guò)計(jì)算二次熒光的能量來(lái)計(jì)算厚度值,電腦操作,非常簡(jiǎn)單,采用上照方式,移動(dòng)測(cè)試平臺(tái),使整個(gè)自動(dòng)化程度大幅度提高,滿足快速的要求。

            詳細(xì)介紹

            X射線膜厚SANX檢測(cè)儀性能優(yōu)勢(shì)

             

            1.精密的三維移動(dòng)平臺(tái) 

            2.的樣品觀測(cè)系統(tǒng) 

            3.良好的圖像識(shí)別 

            4.輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè) 

            5.四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動(dòng)切換 

            6.雙重保護(hù)措施,實(shí)現(xiàn)無(wú)縫防撞 

            7.采用大面積高分辨率探測(cè)器,有效降低檢出限,提高測(cè)試精度

             

            全自動(dòng)智能控制方式,一鍵式操作!

            開(kāi)機(jī)自動(dòng)自檢、復(fù)位; 

            開(kāi)蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái),升起Z軸測(cè)試平臺(tái),方便放樣; 

            關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái),下降Z軸測(cè)試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦; 

            直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測(cè)試點(diǎn); 

            點(diǎn)擊軟件界面測(cè)試按鈕,自動(dòng)完成測(cè)試并顯示結(jié)果。

             

            X射線膜厚SANX檢測(cè)儀技術(shù)指標(biāo)

             

            分析元素范圍:硫(S)~鈾(U) 

            同時(shí)檢測(cè)元素:多24個(gè)元素,多達(dá)5層鍍層

            分析含量:一般為2ppm到99.9% 

            鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)

            SDD探測(cè)器:分辨率低至135eV

            良好的微孔準(zhǔn)直技術(shù):小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm

            樣品觀察:配備全景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭 

            準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合 

            儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm

            樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm

            樣品臺(tái)尺寸:393(W)x 258 (D)mm

            X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

            X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度:小于0.1um

            操作環(huán)境濕度:≤90%

            操作環(huán)境溫度:15℃~30℃

             

            應(yīng)用領(lǐng)域

             

            X射線膜厚檢測(cè)儀廣泛應(yīng)用于小螺絲、螺帽、螺栓、電子連接器、汽車配件、端子、PCB線路板、電子元器件等產(chǎn)品的金屬鍍層快速測(cè)量。

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