X熒光測厚儀標(biāo)準片,測厚儀校準片,膜厚儀標(biāo)準片,鍍層測厚儀標(biāo)準片,測厚儀標(biāo)準片,測厚儀校準片,膜厚儀標(biāo)準片,鍍層測厚儀標(biāo)準片，X射線測厚儀標(biāo)準片，又叫X射線膜厚儀校準片,專業(yè)用于測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度的時候進行標(biāo)準化校準.也就是我們在膜厚測試中常用的標(biāo)準曲線法,是測量已知厚度或組成的標(biāo)準樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量和強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準曲線。

之后以此標(biāo)準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。
對于PCB,五金電鍍,半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

X熒光測厚儀標(biāo)準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片,多鍍層片,合金鍍層片,化學(xué)鍍層片。
如: 單鍍層：Ag/xx, 雙鍍層：Au/Ni/xx , 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx, 合金鍍層：Sn-Pb/xx, 化學(xué)鍍層：Ni-P/

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