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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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品牌 其他品牌
型號(hào) 掃描透射探測(cè)器
廠(chǎng)商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
所在地 上海市

屬性

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更新時(shí)間：2019-06-13 11:38:20瀏覽次數(shù)：464評(píng)價(jià)

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其他品牌

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地類(lèi)別	進(jìn)口	價(jià)格區(qū)間	面議
應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保

掃描透射探測(cè)器是將透射電鏡（TEMs）和掃描電鏡（SEM）原理相結(jié)合的電子顯微鏡。它可以部分實(shí)現(xiàn)透射電子顯微鏡（TEM）的應(yīng)用。STEM 探測(cè)器利用透射電子反映的*信息，擴(kuò)展了 SEM 和 FIB-SEM 的成像和分析性能。它要求樣品厚度小于 100 nm，并可結(jié)合元素分析技術(shù)，如 EDS 和透射模式 EBSD，以獲得更高分辨率的顯微分析信息

詳細(xì)介紹

掃描透射探測(cè)器在不同角度散射的透射電子反映樣品的不同信息，可獲得以下信號(hào)：

明場(chǎng)像（BF）通常代表薄片樣品的布拉格衍射取向和質(zhì)厚襯度
暗場(chǎng)像（DF）包含部分取向襯度和輕元素的成分襯度
高角度暗場(chǎng)像（HADF）包含多的是成分襯度散射角取決于材料、薄片的厚度和電子束能量。

掃描透射探測(cè)器散射角取決于材料、薄片的厚度和電子束能量。

應(yīng)用：STEM 探測(cè)器用于研究生物樣品中的超微結(jié)構(gòu)、半導(dǎo)體器件的失效分析和材料的表征。

TESCAN 開(kāi)發(fā)了兩種類(lèi)型的 STEM 探測(cè)器，都可以用于 SEM 或 FIB-SEM系統(tǒng)，對(duì)于 FIB-SEM 系統(tǒng)而言，它有助于制備高質(zhì)量薄片樣品并進(jìn)行原位分析，增強(qiáng)了儀器的分析能力。

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