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熱售*聲波測厚儀  進口38DL PLUS測厚儀   *高級設(shè)備

【產(chǎn)品名稱】Panametrics 38DL PLUS OLYMPUS*聲波測厚儀

【產(chǎn)品型號】Panametrics 38DL PLUS

【*聲波測厚儀技術(shù)參數(shù)】

 顯示：彩色透反VGA顯示液晶顯示，顯示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米

檢波全波：RF波、正半波、負半波

輸入/輸出：USB1.0從接口。RS-232有。

存儲卡較為大容量：2 GB外置MicroSD存儲卡。視頻輸出VGA輸出標準。

內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器：數(shù)據(jù)記錄器38DL PLUS通過標準RS-232串口或USB端口識別、存儲、回放、清除、傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。容量475000個厚度測量讀數(shù)，或20000個帶厚度值的波形文件名稱、ID編碼及注釋32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼，每個位有四個注釋。文件結(jié)構(gòu)9個標準的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu)。

報告機載：報告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計、帶有位置信息的較為小值/較為大值、較為小值回顧、文件比較及報警報告。

軟件選項

38DLP-OXIDE (U8147014)：使用編碼激活的內(nèi)部氧化層測量軟件。

38DLP-HR (U8147015)：使用編碼激活的高分辨率測量軟件。

38DLP-MM (U8147016)：使用編碼激活的多層測量軟件。

38DLP-HP (U8147017)：使用編碼激活的高穿透（低頻）測量軟件。

選購附件

38DLP/EW (U8778348)：3年保修。

1/2XA/E110 (U8767104)：用于E110-SB EMAT探頭的濾波器適配器。

38-9F6 (U8840167)：RS-232線纜

38-C-USB-IP67 (U8800998)：USB線纜，用于符合IP67標準的密封操作。

38DLP/RFS (U8780288)：腳踏開關(guān)，廠內(nèi)安裝。

HPV/C (U8780124)：數(shù)字式卡尺線纜，用于在測量聲速時進行厚度輸入。

38DLP-V-CC (U8840172)： 數(shù)字式卡尺線纜。

38DLP/BCW/NC (U8780289)：棒材編碼讀取器。

EPLTC-C-VGA-6 (U8840035)：VGA輸出線纜。

MICROSD-ADP-2GB (U8779307)：2 GB外置MicroSD存儲卡。技術(shù)規(guī)格

測量

雙晶探頭測量模式從激勵脈沖后的延時到*個回波之間的時間間隔。

穿透涂層測量模式利用單個底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭），測量金屬的實際厚度和涂層厚度。

穿透漆層回波到回波測量模式在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。

單晶探頭測量模式模式1：激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔。

模式2：延遲線回波與*個底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。

模式3：在激勵脈沖之后，位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。

氧化層模式：可選。

多層模式：可選。

厚度范圍：0.080毫米～635.00毫米，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。

材料聲速范圍：0.508 mm/μs～13.998 mm/μs

分辨率（可選擇）低分辨率：0.1毫米

標準分辨率：0.01毫米

高分辨率（可選項）：0.001毫米

探頭頻率范圍標準：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB）

高穿透（可選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）

一般規(guī)格：工作溫度范圍-10°C～50°C鍵區(qū)密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋。機殼防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼；機殼上的接口密封。設(shè)計符合IP67標準。

外型尺寸（寬 x 高 x 厚）總體尺寸：125毫米x211毫米x46毫米

重量：0.814公斤

電源AC/DC適配器：24V鋰離子電池，23.760 Wh；或4節(jié)AA輔助電池。

鋰離子電池供電時間工作時間：較為少12.6小時，一般14小時，較為多14.7小時?？焖俪潆姡?小時到3小時。標準設(shè)計符合EN15317標準。

【數(shù)字*聲波測厚儀產(chǎn)品特點】

PLUS測厚儀是一款開創(chuàng)*聲測厚技術(shù)新時代的創(chuàng)新型儀器。這款手持式測厚儀可*地適用于幾乎所有*聲測厚應(yīng)用，而且與所有雙晶和單晶探頭*兼容。功能齊全的38DL

PLUS測厚儀可用于各種應(yīng)用，包括使用雙晶探頭對內(nèi)壁腐蝕的管件進行的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進行的極其的壁厚測量。

38DL

PLUS的標準配置帶有很多既強大又易于使用的測量功能，以及一些于某些特殊應(yīng)用的軟件選項。其密封機殼的設(shè)計符合IP67評級要求，可以抵御極其潮濕或多沙塵的嚴酷的環(huán)境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測厚儀顯示屏無論在明亮的陽光下還是在*的黑暗中都能具有的可視性。測厚儀的鍵區(qū)既簡潔又符合人體工程學(xué)的要求。操作人員使用左手或右手即可輕易訪問所有功能。

主要特性

• 可與雙晶和單晶探頭兼容。

• 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。

• 使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。

• 穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。

• 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項。

• 對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。

• 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。

• 多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。

• 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。

• 厚度、聲速和渡越時間測量。

• 差分模式和縮減率模式。

• 時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數(shù)。

• 帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術(shù)。

• 用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。

• 設(shè)計符合EN15317標準。

這款測厚儀與其他測厚儀有何不同？

38DL PLUS測厚儀的設(shè)計宗旨是滿足苛刻的應(yīng)用要求，而且可在野外和生產(chǎn)現(xiàn)場的惡劣條件下正常工作。無論檢測現(xiàn)場多么潮濕、有多大的塵沙、多么寒冷或多么炎熱、多么明亮或多么黑暗，38DL PLUS都可以正常進行檢測工作。如果您需要一款防撞擊、防墜落、堅固結(jié)實的測厚儀器，那么，符合IP67評級標準、帶有橡膠保護套的38DL PLUS正是您要尋找的儀器。

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1.     質(zhì)量穩(wěn)定：實行全過程質(zhì)量監(jiān)控，細致入微，*檢測！

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限制的免責(zé)聲明：本儀器僅限科研使用。 非IVD醫(yī)療用途。我司銷售皆為科研儀器，所售一切商品為非醫(yī)療器械。