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            北京中科環(huán)試儀器有限公司
            初級(jí)會(huì)員 | 第16年

            13810278121

            高低溫試驗(yàn)箱
            交變高低溫試驗(yàn)箱
            高低溫濕熱試驗(yàn)箱
            交變高低溫濕熱試驗(yàn)箱
            經(jīng)濟(jì)型恒溫恒濕箱
            熱劇變/冰水沖擊試驗(yàn)箱
            臺(tái)式恒溫恒濕試驗(yàn)箱
            低溫恒溫箱/低溫儲(chǔ)存箱
            低溫培養(yǎng)箱/低溫恒溫箱
            低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱
            高低溫(冷熱)沖擊試驗(yàn)箱
            紫外光老化試驗(yàn)箱
            氙燈老化試驗(yàn)箱/氙弧燈耐候試驗(yàn)箱
            臭氧老化試驗(yàn)箱
            換氣老化試驗(yàn)箱/熱空氣老化箱
            交變霉菌試驗(yàn)箱
            防銹油脂試驗(yàn)箱
            二氧化硫(硫化氫)試驗(yàn)箱
            鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱
            IP防護(hù)等級(jí)淋雨防水試驗(yàn)設(shè)備
            IP1X-6X防塵試驗(yàn)設(shè)備
            冷凝水氣候試驗(yàn)箱
            400℃、500℃高溫干燥箱
            臺(tái)式電熱鼓風(fēng)干燥箱
            立式電熱鼓風(fēng)干燥箱
            精密干燥箱(液晶屏)
            真空干燥箱
            培養(yǎng)箱系列產(chǎn)品
            熱空氣消毒箱
            種子老化箱/種子發(fā)芽箱
            電子防潮柜
            紫外燈管/氙弧燈管
            振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)/振動(dòng)臺(tái)
            大型步入式試驗(yàn)室
            冰水沖擊試驗(yàn)箱
            精密恒溫試驗(yàn)箱
            低溫脆性試驗(yàn)機(jī)
            跌落試驗(yàn)機(jī)

            (解析)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的可靠性測(cè)試及測(cè)試條件

            時(shí)間:2014/5/12閱讀:2974
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            (解析)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的可靠性測(cè)試及測(cè)試條件:
             
            可靠性測(cè)試應(yīng)該在可靠性設(shè)計(jì)之后,但目前我國(guó)的可靠性工作主要還是在測(cè)試階段,這里將測(cè)試放在前面。為了測(cè)得產(chǎn)品的可靠度(也就是為了測(cè)出產(chǎn)品的MTBF),我們需要拿出一定的樣品,做較長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)行測(cè)試,找出每個(gè)樣品的失效時(shí)間,根據(jù)*節(jié)的公式計(jì)算出MTBF,當(dāng)然樣品數(shù)量越多,測(cè)試結(jié)果就越準(zhǔn)確。但是,這樣的理想測(cè)試實(shí)際上是不可能的,因?yàn)閷?duì)這種測(cè)試而言,要等到zui后一個(gè)樣品出現(xiàn)故障――需要的測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)得無法想象,要所有樣品都出現(xiàn)故障——需要的成本高得無法想象。為了測(cè)試可靠性,這里介紹:加速測(cè)試(也就增加應(yīng)力*),使缺陷迅速顯現(xiàn);經(jīng)過大量專家、長(zhǎng)時(shí)間的統(tǒng)計(jì),找到了一些增加應(yīng)力的方法,轉(zhuǎn)化成一些測(cè)試的項(xiàng)目。如果產(chǎn)品經(jīng)過這些項(xiàng)目的測(cè)試,依然沒有明顯的缺陷,就說明產(chǎn)品的可靠性至少可以達(dá)到某一水平,經(jīng)過換算可以計(jì)算出MTBF(因產(chǎn)品能通過這些測(cè)試,并無明顯缺陷出現(xiàn),說明未達(dá)到產(chǎn)品的極限能力,所以此時(shí)對(duì)應(yīng)的MTBF是產(chǎn)品的zui小值)。其它計(jì)算方法見下文。(*應(yīng)力:就是指外界各種環(huán)境對(duì)產(chǎn)品的破壞力,如產(chǎn)品在85℃下工作受到的應(yīng)力比在25℃下工作受到的應(yīng)力大;在高應(yīng)力下工作,產(chǎn)品失效的可能性就大大增加了);

            測(cè)試條件:
            不同的產(chǎn)品測(cè)試條件不一樣;就拿高溫測(cè)試來說,有些產(chǎn)品要求做高溫貯存測(cè)試,有些要求做高溫運(yùn)行測(cè)試,有些產(chǎn)品的高溫用85℃做測(cè)試,有些產(chǎn)品的高溫是用65℃做測(cè)試。但是,宗旨只有一個(gè),那就是至少滿足國(guó)/行標(biāo)。要測(cè)試一種產(chǎn)品的可靠性,找到這種產(chǎn)品的國(guó)/行標(biāo)是必需的,按照國(guó)/行標(biāo)的要求和指引找出必須的測(cè)試項(xiàng)目與各項(xiàng)目的測(cè)試方法,從而進(jìn)行環(huán)境測(cè)試;同一種產(chǎn)品,在不同的階段,測(cè)試條件也不一樣;一般而言,產(chǎn)品會(huì)經(jīng)過研發(fā)、小批量試產(chǎn)、批量生產(chǎn)三個(gè)不同的階段。在研發(fā)階段,測(cè)試條件zui嚴(yán)(應(yīng)力zui大)、測(cè)試延續(xù)的時(shí)候zui短;小批量試產(chǎn)階段,測(cè)試應(yīng)力適中、測(cè)試時(shí)間適中;批量生產(chǎn)階段,測(cè)試應(yīng)力zui小、測(cè)試時(shí)間較短;三個(gè)階段的主要差別見下表:階段實(shí)驗(yàn)?zāi)康膶?shí)驗(yàn)特點(diǎn)實(shí)驗(yàn)要求研發(fā)發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷,擴(kuò)大設(shè)計(jì)余量高應(yīng)力、短時(shí)間*中試考察產(chǎn)品是否達(dá)到基本的可靠性水平中應(yīng)力、中長(zhǎng)時(shí)間無明顯故障批量生產(chǎn)生產(chǎn)工藝條件的穩(wěn)定性低應(yīng)力、短時(shí)間有條件的允許故障發(fā)生鑒定鑒定產(chǎn)品的可靠性、計(jì)算產(chǎn)品的MTBF低應(yīng)力、長(zhǎng)時(shí)間無特別要求

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