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一、PCB電路板高低溫老化測試機，高低溫老化測試箱,電路板老化箱是鵬銳專業(yè)為電路板，線路板用戶提供：電路板高低溫老化箱,高低溫試驗箱測試電路板老化,電路板行業(yè)高低溫試驗箱,電路板恒溫測試箱,專業(yè)性強，經(jīng)驗豐富，現(xiàn)貨供應(yīng)。

二、PCB電路板高低溫老化測試機產(chǎn)品作用：適用于電路板、線路板、電子芯片、儀器儀表材料、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、航空航天產(chǎn)品及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高低溫濕熱的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。該試驗設(shè)備主要適用于工業(yè)產(chǎn)品恒定、濕熱交變的可靠性試驗，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
    
三、又名高低溫老化測試箱，用于檢測電路板、線路板、電路線材、電路芯片及各種材料進行高低溫恒定和漸變、突發(fā)、耐熱、耐寒、耐干燥等環(huán)境模擬的可靠性及適應(yīng)性。本試驗箱適用于各類電子電器、塑膠塑料、航空航天、半導(dǎo)體照明、光電通訊、汽車零部件、電線電纜、金屬五金、化工涂料、不干膠、紙品印刷、建材等行業(yè)品質(zhì)檢測及研發(fā)新項目之用。

四、符合標準
GB10586     高溫試驗箱技術(shù)條件
GB10589     低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10592     高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB11158     高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T2423.1 試驗A：低溫試驗方法
GB/T2423.2 試驗B：高溫老化試驗方法
GB/T2423.3 試驗Ca: 恒定溫度試驗
GB/T5170.2   電工電子產(chǎn)品
環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備GB/T5170.5 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法

五、參數(shù)性能：
容積：150L
規(guī)格尺寸(單位:mm)：(W×H×D )
型號:PRGD-150
內(nèi)形尺寸：500×600×500  
外箱尺寸：1070×1460×1070
溫度范圍：-40～150℃ 
溫度波動度：±0.5℃   
溫度均勻度：±2.0℃
升溫速度：1.0～3.0℃/min
降溫速率：0.7～1.2℃/min
電  源:   1ф3W 220V±10%