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涂層測厚儀使用方法和注意事項
閱讀：1826 發(fā)布時間：2018-12-5
涂鍍層測厚儀測量數(shù)據(jù)的影響因素
1、薄涂層的測量準確度和厚度沒有關(guān)系，是一個常數(shù)，厚涂層的測量準確度是一個近似恒定的分數(shù)和厚度的乘積。
2、基體磁性的變化會影響測量的數(shù)據(jù)，所以涂鍍層測厚儀校準時要采用材質(zhì)和試樣基體相同的校準；采用待鍍產(chǎn)品做基體進行儀器校準，以避免不相同的集體或局部熱處理和冷加工影響測量數(shù)據(jù)。
3、涂鍍層測厚儀在靠近試樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測量數(shù)據(jù)往往是不可靠的，這種效應可能從不連續(xù)處向前延續(xù)約20mm。
4、涂鍍層測厚儀測量曲面時，數(shù)據(jù)隨曲率半徑的減小而明顯。
5、涂鍍層測厚儀探頭和試樣要保持清潔，因為外來的附著塵埃會影響測量的數(shù)據(jù)。
涂層測厚儀使用方法
●基體金屬特性
對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
●基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。
●邊緣效應
不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量。
●曲率
不應在試件的彎曲表面上測量。