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            上海榮計達儀器科技有限公司
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            冷熱循環(huán)測試老化庫房實驗室

            參  考  價面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準

            產(chǎn)品型號BR-6m³

            品       牌榮計達儀器

            廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

            產(chǎn)品資料下載

            所  在  地上海市

            更新時間:2025-04-13 07:56:09瀏覽次數(shù):746次

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            產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 1萬-5萬
            應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合
            冷熱循環(huán)測試老化庫房實驗室適用于整機或大型零部件的低溫、高溫、高低溫變化、恒定濕熱、高低溫交變濕熱試驗等。為產(chǎn)業(yè)界提供大型零件,半成品,成品之大型溫濕度測試環(huán)境空間,適合于測試產(chǎn)品量多、體積大之試驗設(shè)備如:電腦終端機、汽車零件。

            冷熱循環(huán)測試老化庫房實驗室適用于整機或大型零部件的低溫、高溫、高低溫變化、恒定濕熱、高低溫交變濕熱試驗等。為產(chǎn)業(yè)界提供大型零件,半成品,成品之大型溫濕度測試環(huán)境空間,適合于測試產(chǎn)品量多、體積大之試驗設(shè)備如:電腦終端機、汽車零件。主要由控制面版、配電盤、保濕庫板送風(fēng)機、加熱器、加濕器、冷凍機組合而成。還可根據(jù)用戶要求改變工作室尺寸與功能等;拼塊式箱體,造型美觀大方;科學(xué)的風(fēng)道設(shè)計,能滿足不同客戶的需求。

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            冷熱循環(huán)測試老化庫房實驗室用途:該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

            應(yīng)用的行業(yè):適合電子、塑膠制品、電器、儀表、食品、車輛、金屬、化學(xué)、建材、航天、醫(yī)療等制品檢測質(zhì)量之用。

            產(chǎn)品的特點:

            1、制冷機采用法國原裝“泰康"全封閉壓縮機。

            2、冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計。

            3、采用多翼式送風(fēng)機強力送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。

            4、風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計,風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準,并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時間快。5、升溫、降溫、系統(tǒng)獨立可提高效率,降低測試成本,增長壽命,減低故障率。

            6、溫度控制采用全進口觸摸按鍵式儀表,操作設(shè)定簡單。

            7、資料及試驗條件輸入后,控制器具有鎖定功能,避免人為觸摸而改變溫度值。

            8、具有P.I.D自動演算的功能,可將溫度變化條件立即修正,使溫度控制更為精確穩(wěn)定。

            滿足標(biāo)準:

            GB/T10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件

            GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件

            GB/T 24231-2008/IEC608-2-1低溫試驗方法

            GB/T 24232-2008/IEC60068-2-2 高溫試驗方法

            GB/T 24233-2008/IEC60068-2-78 恒定混熱試驗方法

            GB/T24234-2008/IEC60068-2-30交變混熱試驗方法

            GB/T 242322-2008溫度變化速率試驗方法

            GJB 1503A-2009 高溫試驗方法

            GJB 1504A-2009低溫試驗方法

            GTB 1509A-2009濕熱試驗方法

            GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備

            工作室尺寸:1350*1600*2800mm

            技術(shù)參數(shù):

            內(nèi)箱容積 立方/㎡

             6

            8

             18

            48

             100

             180

             280

            480

            內(nèi)箱尺寸 W*D*H(m)

             

             1x1x1

            2x2x2

            3x3x2

            4x4x3

            5x5x4

             6x6x5

            7x8x5

            8x10x6

             

            溫度范圍

            -40℃~100℃

            -70℃~100℃

             -90℃~100℃

            -120℃~100℃

             

            濕度范圍

            20%~98%RH

            溫度波動

            ≤±0.5℃

            濕度波動度

            ≤±2%RH

            溫度均勻度

             ≤2℃

            溫度偏差

            ≤±2℃

            濕度偏差

            ≤±3%RH

            升溫速率

            3℃/min、空載,全程平均

            降溫速率

            0.7~1℃/min(+150℃<->-70℃??蛰d,全程平均

            制冷方式

            壓縮機制冷

            冷卻方式

            風(fēng)冷/水冷

             

             

             


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