HT-YB-I玉米表型檢測(cè)儀

1.1 簡(jiǎn)介

   玉米表型檢測(cè)系統(tǒng)又稱 玉米表型檢測(cè)儀可一鍵檢測(cè)分析玉米凸包面積、外接矩形面積、長(zhǎng)寬比、側(cè)視角緊湊度、側(cè)視角投影面積、玉米株高、莖稈節(jié)間距和基粗葉長(zhǎng)、葉片彎曲度、莖葉夾角和玉米千粒重等高通量表型參數(shù)。玉米表型檢測(cè)系統(tǒng)可廣泛用于各農(nóng)科院、高校、育種公司、種子站的玉米表型研究！對(duì)遺傳育種研究、突變株篩選、植物形態(tài)建模、生長(zhǎng)研究等方面起到重要作用。

1.2 適用范圍：

1、玉米株型適用于室內(nèi)盆栽的玉米

2、玉米株高適用于大田玉米株高測(cè)量

3、千粒重適用于室內(nèi)考種測(cè)量

1.3 測(cè)量誤差

1、株高測(cè)量范圍: 300-3800mm 精度: 0.5%

2、玉米株型:測(cè)量范圍:0-1.8m，株高準(zhǔn)確度: 1%，角度參數(shù)精度: 3%，其他參數(shù)準(zhǔn)確度:5%

3、數(shù)粒精度誤差: 2%，修正后可達(dá)100%

1.4 硬件配置

1、手機(jī)支架:       用于手機(jī)固定拍攝

2、背景布:          黑色磨砂布面

3、背光板:        超薄發(fā)光板

4、數(shù)據(jù)采集器:     超大彩色屏手機(jī)

5、玉米株高測(cè)量桿: 移動(dòng)測(cè)量式標(biāo)定桿