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            北京精誠華泰儀表有限公司
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            HTMJ-S1葉面積分析測量儀(高級)
            • HTMJ-S1葉面積分析測量儀(高級)

            貨物所在地:北京北京市

            地: 北京

            更新時間:2025-02-03 21:00:07

            瀏覽次數(shù):243

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            HTMJ-S1葉面積分析測量儀(高級)可自動測定非相碰的稻谷、小麥、瓜子等普通種子的各粒粒長、粒寬、投影粒面積。

            HTMJ-S1葉面積分析測量儀(高級)

            1.1 用途

            用于植物葉面積分析等。



            1.2 主要技術指標

            1、配大景深的1200萬像素拍攝儀、>10000mAH5V移動電源輔助背光源板,可野外背光照明3小時。標配的最大測量面積380*265mm,自動標定和自動圖像校正。

            2、可拍照與分析一鍵化操作,同時分析多片葉的葉面積、周長,最大葉長、最大葉寬,矩形度,凹凸比,球狀性,形狀系數(shù),蟲洞數(shù)量,蟲損和蟲洞葉面積,以及單葉的葉孔洞、形狀系數(shù)、鋸齒數(shù)、葉柄長寬等參數(shù),并標記葉片邊緣以便核對正確性。

            3、可分析小至1mm ^2的葉片,分析誤cha<0.5%、測量中的分析時間<2秒,自動獨立標記各葉片并可保存圖,分析結果可輸出至Excel表。

            4、可自動測定非相碰的稻谷、小麥、瓜子等普通種子的各粒粒長、粒寬、投影粒面積。   

            1.3 標準配置

            1、葉面積分析儀系統(tǒng)軟件U盤及軟件鎖1

            2、1200萬像素拍攝儀1

            3、超薄背光燈板1


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