目前隨著分析技術的不斷發(fā)展，X熒光光譜儀分析的應用越來越普遍。X射線熒光光譜儀可以對從Be-U的元素進行定性和定量的分析。
盡管x射線熒光光譜分析壓片方法因操作簡單、分析速度快、度高、成本低等優(yōu)點在水泥生產(chǎn)中廣泛應用，但由于水泥原料礦物的成分及結構復雜，樣片的制作因人而異及X射線熒光光譜儀本身測量的影響等，都會對測量的度帶來影響。影響測量度的主要因素有：
(1)標樣選取代表性不夠；
(2)樣品的制作過程與標樣不一致，如粉磨粒度不同、助磨劑的加入量不一致等帶來引起測量的誤差；
(3)樣片表面不清潔，有裂痕、樣片厚度與標樣不一致等也會給分析帶來影響；
(4)基體效應，水泥工業(yè)中的原料都是一些不均勻粉末，．來源不同的原料，其粒度、成分、礦物形態(tài)以及元素的干擾嚴重，基體效應是影響XRF分析度的大因素?；w效應主要有三種情況：
①顆粒效應，由粒度、粒度分布、顆粒形狀及顆粒內(nèi)部不均勻性引起的物理效應；
②礦物效應，化學成分相同的物質(zhì)由于結晶條件的差異而造成的晶體結構不同，如石墨和金剛石，不同晶體結構的同種元素產(chǎn)生不同強度的熒光X射線，從而造成誤差；
③元素間效應，是指其他元素對待測元素的熒光X射線強度的影響，又叫吸收-增強效應(基體吸收初級x射線束影響初級X射線對待測元素的激發(fā)；基體吸收待測元素的熒光X射線束；基體元素放射出的熒光X射線束位于待測元素吸收限的短波側(cè)，被待測元素吸收激發(fā)出待測元素的特征譜線)。
在上述各種影響因素中，因制樣過程已較為完善，且人為因素帶來的誤差不可消除，因此繼續(xù)研究制樣過程來減小分析誤差已沒有很大的提升空間?；w效應是帶來分析誤差主要的因素，且基體效應是礦物的本身帶來的影響，礦物的成分和礦物結構或形態(tài)直接關系顆粒效應、礦物效應、元素間干擾效應。從近些年的國內(nèi)外文獻、期刊上來看，學者們對這方面的研究不多，因此研究原料礦物的成分和形態(tài)對XRF測試的影響從根本上減小測量誤差、提高度的方法，對水泥質(zhì)量控制提供一定的理論支撐，具有一定的工業(yè)和現(xiàn)實意義。
17
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務