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X射線測厚儀介紹

       Thick800AX射線測厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

X射線測厚儀性能特點

1、上照式
2、測試組件可升降
3、高精度移動平臺
4、小準直器
5、高分辨率探頭
6、可視化操作
7、自動定位高度
8、自動尋找光斑
9、鼠標定位測試點
10、良好的射線屏蔽
11、超大樣品腔設(shè)計
12、測試口安全防護

X射線測厚儀技術(shù)指標

型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）。
一次可同時分析多24個元素或五層以上鍍層。
元素分析檢出限可達2ppm，分析含量一般為2ppm到99.9％。
鍍層厚度薄可達0.005um，一般在20um內(nèi)（不同材料有所不同）。
小孔準直器（小直徑0.1mm），測試光斑在0.2mm以內(nèi)。
高精度移動平臺（定位精度小于0.005mm）。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型。
多次測量重復(fù)性可達0.05um（對少于1um的外層Au）。
工作穩(wěn)定性為0.1um（對少于1um的外層Au）。
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
儀器尺寸：576 x 495x545 mm
重量：90 kg

X射線測厚儀標準配置

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

X射線測厚儀應(yīng)用領(lǐng)域

，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)。