X-光熒光分析儀 (X-ray Fluorescence Spectrometer, XRF )系利用X-光束照射試片以激發(fā)試片中的元素，當原子自激發(fā)態(tài)回到基態(tài)時，偵測所釋放出來的螢光，經(jīng)由分光儀分析其能量與強度後，可提供試片中組成元素的種類與含量。

XRF熒光光譜法優(yōu)勢： 

1、X射線熒光原理，無損、快速、準確的檢測和鑒定材料成分； 

2、銅材、鋼材、鋅合金、錫合金等各種合金元素成分分析； 

3、高分辨率探測器，能夠檢測到幾十ppm的元素含量；

4、固體、粉末、液體等樣品可直接測試；

5、幾十秒可得出穩(wěn)定準確的測試數(shù)據(jù)； 

6、測試過程簡單、輸出報告多種格式、查詢篩選統(tǒng)計功能齊全；

7、FP法的譜圖對比分析方法，供應商物料發(fā)生變化及時預警功能。 

離子色譜法是利用離子交換的原理，使待測定的離子在流動相與固定相間的不同親和力而得以分離，采用電導檢測器測定，根據(jù)各成分的保留時間定性，利用色譜峰面積定量的分析方法。檢測限可以達到ppb的分析水平。目前根據(jù)BS EN14582:2007標準，就是氧彈燃燒利用離子色譜儀分析鹵素。
 

離子色譜法優(yōu)勢： 

離子色譜法采用化學測試，能夠有效全面測試樣品中的鹵素含量； 

/國家標準的測試方法，均采用離子色譜法；

此方法測試數(shù)據(jù)更加真實可靠，可達到第三方公證機構的參數(shù)要求；

此方法對于操作人員要求均低于其他化學法測試儀器； 

儀器使用過程中相對測試成本低，耗材消耗量小