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            HORIBA科學儀器事業(yè)部

            HORIBA | 貼息貸款儀器 | 納米粒度及Zeta電位分析儀

            時間:2022-11-23 閱讀:446
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                產(chǎn)品名稱:納米粒度及Zeta電位分析儀 

                產(chǎn)地:日本

                型號:SZ-100V2


            典型用戶:天津醫(yī)藥科學研究所


            01 儀器用途及應(yīng)用范圍:


            SZ-100V2擁有兩個角度檢測器,可測量不同濃度樣品( 高濃度、稀釋樣品、有色樣品)專利Zeta 電位樣品池設(shè)計,電極間距小,石墨涂層,可減小所加電壓、最小化水的電解效應(yīng),延長樣品池壽命。


            生命科學

            蛋白質(zhì)團聚的粒徑檢測

            脂質(zhì)體、病毒粒徑測量

            蛋白質(zhì)的Zeta 電位、等電點測量


            半導體材料

            CMP 拋光液粒徑分析

            CMP 拋光液在線粒徑分布監(jiān)控

            CMP 研磨液Zeta 電位分析

            硅片切削液粒徑分布分析


            02 產(chǎn)品特點


            粒徑測量原理:動態(tài)光散射法(光子相關(guān)光譜法)

            粒徑測定范圍:0.3 nm ~ 10 μm

            Zeta 電位測量原理:激光多普勒電泳法

            Zeta 電位測量范圍:-500 mV ~ +500 mV

            分子量測量原理:Debye plot

            分子量測量范圍:1000 ~ 2×107 Da

            測量角度:90° 、173°和17°

            樣品量:12 μL ~ 1000 μL


            03 索取樣本、聯(lián)系報價


            如果您想了解更多關(guān)于產(chǎn)品儀器信息、索要儀器報價,歡迎掃描二維碼留言,我們的工程師將會及時與您取得聯(lián)系。

            (點擊查看更多產(chǎn)品詳情)


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