HORIBA Combiscope XploRA原子力拉曼聯(lián)用系統(tǒng)是一款高度集成原子力拉曼系統(tǒng)。它可使用高達(dá)1.4數(shù)值孔徑的100倍物鏡，非常適合透明樣品的測試。此外，它也為其他探測方法提供了開放空間。

產(chǎn)品特點(diǎn)：
全自動操作，數(shù)分鐘內(nèi)即可開始測試
適合拉曼紅光或近紅外激發(fā)（AFM反饋激光為1300nm）
與倒置顯微鏡底部耦聯(lián)
可使用高達(dá)1.4NA值的100倍物鏡
全自動系統(tǒng)
TERS快速成像
同一軟件操作

結(jié)合納米成像和化學(xué)分析

單層、雙層和三層石墨烯的共點(diǎn)AFM和拉曼成像

AFM和其他SPM技術(shù)可提供分子級別分辨率下的形貌、力學(xué)、熱能、電磁場和近場光學(xué)特性。
共焦拉曼光譜和成像可提供納米材料在亞微米空間分辨率下的詳細(xì)化學(xué)信息。
同步測量的*平臺，有助于您獲得可靠且位置高度重合的圖像。
結(jié)合高性能和易用性，HORIBA將會根據(jù)您所選擇的SPM制造商提供一個可靠、全功能的解決方案
針尖增強(qiáng)拉曼光譜(TERS)的光學(xué)、機(jī)械和軟件都是經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計(jì)的，同時有HORIBA在拉曼光譜幾十年的經(jīng)驗(yàn)做技術(shù)支持，您可以自信地使用這一技術(shù)。

一個工具多種可能：AFM-拉曼有助于您提高效率

快速找到納米對象
由于納米材料具有特殊的化學(xué)屬性，拉曼峰信號較強(qiáng)，因此在光學(xué)顯微鏡下不可見的納米材料可以通過超快速拉曼成像進(jìn)行搜索和定位。在找到樣品后，我們可以對感興趣的位置進(jìn)行形貌、機(jī)械、電學(xué)和熱能分析。

交叉驗(yàn)證您的數(shù)據(jù) 
拉曼光譜可以證實(shí)材料的某些特性，例如前面研究的石墨烯，AFM形貌的對比度較差而難以確定層厚，拉曼則可以從另外一個角度去獲得相同的信息，此外拉曼還提供更多有關(guān)結(jié)構(gòu)和缺陷的信息，此信息只有具備原子分辨率的AFM才能提供。

獲得感興趣納米結(jié)構(gòu)的化學(xué)信息
在表征納米結(jié)構(gòu)時，有時僅獲得物理性質(zhì)是不夠的。高分辨的拉曼共焦成像可提供詳細(xì)的化學(xué)成分信息，這是其他SPM傳感器無法實(shí)現(xiàn)的。

探索TERS（針尖增強(qiáng)拉曼散射）領(lǐng)域
TERS（或納米拉曼）可以綜合兩種技術(shù)之優(yōu)勢：可獲得空間分辨率低至2nm（一般低至10nm）的化學(xué)特異性拉曼光譜成像。該技術(shù)可用于表征從納米管到DNA等各種樣品。