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            HORIBA科學儀器事業(yè)部

            BUSINESS

            當前位置:> 供求商機> PP-TOFMS-HORIBA等離子體分析飛行時間質(zhì)譜儀

            [供應]PP-TOFMS-HORIBA等離子體分析飛行時間質(zhì)譜儀

            貨物所在地:北京北京市

            更新時間:2024-09-22 21:00:05

            有效期:2024年9月22日 -- 2025年3月22日

            已獲點擊:863

            聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)

            HORIBA等離子體分析飛行時間質(zhì)譜儀原理:
            等離子體分析飛行時間質(zhì)譜儀結(jié)合了輝光放電等離子體的濺射速度和時間飛行質(zhì)譜的快速以及高靈敏度,實現(xiàn)了高分辨率和高靈敏度條件下固體材料的快速化學深度剖析。

            HORIBA等離子體分析飛行時間質(zhì)譜儀原理:
            等離子體分析飛行時間質(zhì)譜儀結(jié)合了輝光放電等離子體的濺射速度和時間飛行質(zhì)譜的快速以及高靈敏度,實現(xiàn)了高分辨率和高靈敏度條件下固體材料的快速化學深度剖析。


            HORIBA等離子體分析飛行時間質(zhì)譜儀重點應用領(lǐng)域:

            ●  摻雜分析(半導體、光電子、太陽能光伏、傳感器、固態(tài)光源)

            ●  表面和整體污染鑒定(PVD 鍍層、摩擦層、電氣鍍層、光學鍍層、磁性鍍層)

            ●  腐蝕科學和技術(shù)(示蹤物、標記監(jiān)測、同位素標記)

            ●  界面監(jiān)測

            HORIBA等離子體分析飛行時間質(zhì)譜儀技術(shù)參數(shù):

            ●  采集速率:每30μs一張全質(zhì)譜
            ●  質(zhì)量分辨率:選擇高分辨率模式時,在m/z 208可達 5000
            ●  動態(tài)范圍:107
            ●  質(zhì)量準確度:40 ppm
            ●  靈敏度:103 cps/ppm
            ●  深度分辨率:nm
            ●  正負離子模式
            ●  4個離子的靈活消隱功能
            ●  簡單易用的水平樣品裝載


            產(chǎn)品特點:
            HORIBA等離子體分析飛行時間質(zhì)譜儀●  樣品分析快速無預處理:無需超高壓腔
            ●  適用于各種材料及鍍層分析
            ●  全質(zhì)量覆蓋:可提供從 H 到U元素的完整質(zhì)譜和分子信息,包括同位素監(jiān)測
            ●  *3D 數(shù)據(jù),脈沖射頻模式()
            ●  高深度分辨率:測試薄層可至 1nm
            ●  薄層到厚層:層厚可達 100μm
            ●  無需校準的半定量分析:濺射和電離過程分離,使得基體效應zui小化

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