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            上海埃飛電子科技有限公司
            初級(jí)會(huì)員 | 第5年

            18217289176

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            瞬態(tài)吸收光譜儀系統(tǒng)
            • 瞬態(tài)吸收光譜儀系統(tǒng)

            貨物所在地:上海上海市

            更新時(shí)間:2024-12-20 21:00:07

            瀏覽次數(shù):151

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            瞬態(tài)吸收光譜儀系統(tǒng)特點(diǎn)&優(yōu)勢
            1.市面上*一臺(tái)使用單光束輸入的瞬態(tài)光譜儀,運(yùn)用市面上*率的OPA(光參數(shù)擴(kuò)大器),達(dá)到Z寬的泵浦和探測范圍
            2. 大多數(shù)競爭產(chǎn)品使用掃描式系統(tǒng),即使在探測寬度達(dá)到400-1900nm的范圍,我們也只使用單發(fā)射檢測方案。

            瞬態(tài)吸收光譜儀系統(tǒng)



            瞬態(tài)吸收光譜儀系統(tǒng)技術(shù)規(guī)格

            選配可調(diào)節(jié)泵浦230-22,000nm

            多頻率白光持續(xù)探測

            掃描范圍2ns

            信噪比<0.2mOD

            包含完整OPA

            界面直觀

            時(shí)間零點(diǎn)探測

            數(shù)據(jù)錄入

            兼容NI LabView

            白光連續(xù)切斷校正

            信號(hào)優(yōu)化在線校準(zhǔn)

            參數(shù)


            泵浦

            泵浦源

            Palitra-FS

            泵浦光譜范圍

            230-22,000nm

            探測

            探測光源

            白光持續(xù)

            探測光譜范圍

            450-750nm

            延遲線

            掃描范圍

            -0.1...1.9ns

            時(shí)間分辨

            3.3fs

            檢測

            檢測類型

            Si CCD 光譜儀

            探測光譜范圍

            450-750nm

            探測光譜分辨率

            < 150cm-1

            樣品區(qū)

            樣品空間

            12.7*12.7cm

            類型

            透射和反射

            系統(tǒng)

            達(dá)到時(shí)間S/N<0.2MOD( >10,000:1)

            <2

            100個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)一次掃描測量時(shí)間

            <10分鐘

            時(shí)間分辨

            <200fs

            大小

            光學(xué)頭(長*寬*高)

            81.3*52.4*26.7cm

            重量

            90Kg

            冷卻

            無需冷卻

            電環(huán)境

            100-240VAC;5V@50/6OHZ

            控制界面

            用戶界面

            軟件 inspect commander

            環(huán)境

            操作溫度范圍

            25-35℃

            相對濕度

            < 60%,無冷凝

            瞬態(tài)吸收光譜儀通過“泵浦"來激發(fā)分子體系從而探索分子性質(zhì),并且在一個(gè)給定時(shí)間延遲后,通過探測脈沖了解體系狀態(tài)。

            inSpect-TA是一款可調(diào)配zui寬瞬態(tài)測量范圍的瞬態(tài)光譜儀。靈活的模塊設(shè)計(jì)可以自由選擇“泵浦"和“探測"脈沖,還可在透射和反射兩個(gè)模式間自由切換。inSpect的緊湊設(shè)計(jì)在保留出色穩(wěn)定性和易操作性的同時(shí),節(jié)省了存放空間。泵浦源為Quantronix Palitra系列的光參數(shù)放大器,其特點(diǎn)為緊湊及寬無間隙可調(diào)性

            探測是一束連續(xù)白光,通過可再生放大光束的一小部分聚焦在藍(lán)寶板上形成。檢測是通過切斷泵浦束,記錄連續(xù)探測源的脈沖對脈沖差吸光度,此為泵浦和脈沖間的延遲功能。在inSpect Commander 軟件的控制下,

            這個(gè)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)*自動(dòng)化。軟件和寬帶寬的持續(xù)白光探測相結(jié)合,記錄不同延遲時(shí)的頻率分辨差異吸收信號(hào),重建測量的2D時(shí)頻分辨圖像。



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