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產(chǎn) 品 概 要
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscopy，簡稱AFM），是一種不需要導(dǎo)電試樣的掃描探針顯微鏡。這種顯微鏡通過其粗細(xì)只有一個原子大小的探針在非常近的距離上探索物體表面的情況，便可以分辨出其他顯微鏡無法分辨的極小尺度上的表面細(xì)節(jié)與特征。
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
| 產(chǎn) 品 概 要 | |||
| 原子力顯微鏡（Atomic Force Microscopy，簡稱AFM），是一種不需要導(dǎo)電試樣的掃描探針顯微鏡。這種顯微鏡通過其粗細(xì)只有一個原子大小的探針在非常近的距離上探索物體表面的情況，便可以分辨出其他顯微鏡無法分辨的極小尺度上的表面細(xì)節(jié)與特征。AFM能以*的高分辨率探測原子和分子的形狀，確定物體的電、磁與機(jī)械特性，甚至能確定溫度變化的情況。使用AFM時無需使試樣發(fā)生變化，也無需使試樣受破壞性的高能輻射作用。 | |||
 產(chǎn) 品 說 明 | |||
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