課程主題：【小貝開講】粒度表征常用方法、優(yōu)缺點及高分辨粒度表征的重要性

課程時間：2021-4-9 14:00

課程簡介：

隨著科技的發(fā)展，關于顆粒粒度的表征方法已從初簡單的篩分，發(fā)展到各種原理的檢測方法，包括靜態(tài)激光衍射法、動態(tài)激光散射法、離心沉降法、光阻法、電阻感應法、拍照圖像法等，這些方法各有優(yōu)缺點和適用性，對這些方法的了解有助于我們使用合適的工具對我們的產品或中間產物或原料進行有效的研究和質控。 高分辨的粒度表征技術是科學與產品不斷發(fā)展的必然要求。因為研發(fā)人員需要依靠粒度數(shù)據(jù)做出決策，QC需要及時發(fā)現(xiàn)批次間細微的差異。只有高分辨粒度表征技術，才能幫助客戶發(fā)現(xiàn)關鍵細節(jié)，實現(xiàn)精|準表征，獲得更加真實的粒度信息。然而，當前很多時候我們都是第|一時間使用激光粒度儀，而這其中有時會面臨著測試結果遺漏了關鍵細節(jié)的風險。 此次研討會將對以上內容一一向您做介紹。

姚金龍  貝克曼庫爾特生命科學

研究生畢業(yè)后先后在中科院上海有機所，上海高等研究院和某著名顆粒分析廠家工作，2019年正式加入貝克曼庫爾特公司。在激光粒度儀，納米粒度和Zeta電位分析儀、顆粒圖像分析儀、納米可視追蹤分析儀和粉體顆粒流變儀等具有5-10年的操作應用經驗，負責全|國粒度相關產品售前、售后應用技術支持。