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ZHIT 技術(shù)用于EIS數(shù)據(jù)可靠性驗(yàn)證和重建
閱讀：358 發(fā)布時(shí)間：2022-5-5| 提 供 商 | 環(huán)球君業(yè)（北京)科技有限公司 | 資料大小 | 1.4MB |
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電化學(xué)阻抗譜(EIS)是一種廣泛應(yīng)用于許多電化學(xué)領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)方法。盡管現(xiàn)代計(jì)算機(jī)技術(shù)使其應(yīng)用變得非常容易，但用戶必須認(rèn)真處理好EIS測(cè)試的基本條件，才能得到可靠的結(jié)果。其中一個(gè)重要條件就是研究對(duì)象的穩(wěn)定性。并不是所有研究對(duì)象（例如，電池），也不是在所有條件下（例如，長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量）都能保證測(cè)試系統(tǒng)的穩(wěn)定性，在這些情況下測(cè)量的數(shù)據(jù)可能會(huì)不可靠從而導(dǎo)致誤解。然而在大多數(shù)情況下，并不能簡(jiǎn)單的看出測(cè)量數(shù)據(jù)的可靠性。
Zahner ZHIT 算法是一種能夠驗(yàn)證數(shù)據(jù)可靠性的工具，此外它還能從測(cè)量的相位數(shù)據(jù)中重建其阻抗數(shù)據(jù)。