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xrf熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法
xrf熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法，應(yīng)用于地質(zhì)、環(huán)境、石化、金屬、礦物、水泥、玻璃等眾多工業(yè)及科研領(lǐng)域。
當(dāng)材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅(qū)逐內(nèi)層軌道的電子，然而這使原子的電子結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此，物質(zhì)放射出的輻射，這是原子的能量特性。
xrf熒光光譜儀工作原理：
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長分開，分別測量不同波的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。
xrf熒光光譜儀對象主要有各種磁性材料、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等，以及各種形態(tài)樣品的無標半定量分析，對于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結(jié)果接近于定量分析的準確度。X熒光分析快速，某些樣品當(dāng)天就可以得到分析結(jié)果。適合課題研究和生產(chǎn)監(jiān)控。熒光分析儀分為波長色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。波長色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據(jù)布拉格定律將不同能量的譜線分開，然后進行測量。波長色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發(fā)源，可分為順序式、同時式譜儀、和順序式與同時式相結(jié)合的譜儀三種類型。
xrf熒光光譜儀產(chǎn)品優(yōu)點：
1、采樣方式靈活，對于稀有和貴重金屬的檢測和分析可以節(jié)約取樣帶來的損耗。
2、測試速率高，可設(shè)定多通道瞬間多點采集，并通過計算器實時輸出。
3、對于一些機械零件可以做到無損檢測，而不破壞樣品，便于進行無損檢測。
4、分析速度較快，比較適用做爐前分析或現(xiàn)場分析，從而達到快速檢測。
5、分析結(jié)果的準確性是建立在化學(xué)分析標樣的基礎(chǔ)上。