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MikroTest系列涂層測(cè)厚儀使用過(guò)程中注意事項(xiàng)
MikroTest系列涂層測(cè)厚儀使用過(guò)程中注意事項(xiàng)
推動(dòng)指輪時(shí)，不要觸動(dòng)按鈕； 盡量保證測(cè)量點(diǎn)與兩支撐點(diǎn)在同一平面上； 在粗糙表面測(cè)量時(shí)，讀數(shù)將偏大。要多次測(cè)量求取平均值； 測(cè)量柱體或圓形邊緣時(shí)，一定要利用儀器測(cè)嘴的V型口； 測(cè)量含碳量高或經(jīng)過(guò)熱處理后的硬質(zhì)鋼上涂層時(shí)，測(cè)值會(huì)偏大； 基體厚度小于臨界厚度時(shí)，測(cè)值會(huì)偏大； 在凸凹測(cè)量會(huì)對(duì)測(cè)值有影響，在凸面時(shí)測(cè)值偏大、凹面時(shí)測(cè)值偏小。
麥考特測(cè)厚儀根據(jù)量程大小可分為G6，F(xiàn)6，G7，F(xiàn)7，S3，S5，S10和S20以及筆式測(cè)厚儀等各種不同規(guī)格的測(cè)厚儀,最小的測(cè)量范圍是0-100微米，最大的是7.5-20毫米；又根據(jù)表現(xiàn)形式分為圓盤(pán)指針式的和數(shù)字顯示的(如新型的G7，F(xiàn)7等)；還根據(jù)外觀的不同分為香蕉形的(俗稱)和筆式測(cè)厚儀,特別要注意的是，EPK還有二種特殊規(guī)格的麥考特測(cè)厚儀：即測(cè)量銅鋁塑料基底上鍍鎳的Ni50，Ni100和測(cè)量鐵基底上鍍鎳的NiFe50。
MikroTest涂層測(cè)厚儀測(cè)量原理及應(yīng)用
所有MikroTest涂層測(cè)厚儀都是依據(jù)磁吸力的測(cè)量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)生產(chǎn)的。測(cè)量磁鋼與磁性基體間的磁吸力與盤(pán)狀彈簧的彈力平衡，盤(pán)狀彈簧的旋轉(zhuǎn)彈力的大小與涂層厚度有直接關(guān)系。
MikroTest涂層測(cè)厚儀中G6，F(xiàn)6，G7，F(xiàn)7，S3，S5，S10和S20型主要用于測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性涂鍍層；Ni50和Ni100主要用于測(cè)量銅鋁塑料基底上鍍鎳；NiFe50主要用于測(cè)量鋼鐵基體上的鍍鎳層。