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膜厚計(jì)的校正
閱讀：885 發(fā)布時(shí)間：2013-3-14
膜厚計(jì)的校正
以美國(guó)狄夫斯高膜厚計(jì)而言，校正的原理及方式很簡(jiǎn)單。
膜厚計(jì)的測(cè)頭就像磁鐵一樣，將測(cè)頭在待測(cè)材料的素材【尚未有任何涂裝或電鍍的裸材】上測(cè)量，此時(shí)，膜厚計(jì)會(huì)感測(cè)到此材料的 大磁吸力；當(dāng)我們將標(biāo)準(zhǔn)校正膜片放在素材上【就如同涂上一層己知厚度的涂裝層】，我們?cè)儆脺y(cè)頭在上面量測(cè)時(shí)，膜厚計(jì)會(huì)得到一個(gè)相對(duì)較小的磁吸力【因?yàn)?，測(cè)頭與素材間多了一道膜厚片的距離，因此，磁吸力會(huì)變小】，如此，越厚的標(biāo)準(zhǔn)片會(huì)測(cè)得相對(duì)越小的磁吸力。我們只要將其相對(duì)的實(shí)際厚度值，如：0um、12um、50um、100um等相對(duì)的值輸入給膜厚計(jì)，膜厚計(jì)透過(guò)回歸計(jì)算后即會(huì)將此檢量曲線建立在記憶體中，當(dāng)我們測(cè)量未知膜厚的工作物時(shí)，測(cè)頭感應(yīng)到某個(gè)磁吸力后，以內(nèi)插法的方式，膜厚計(jì)即可顯示出其測(cè)得的膜厚值了。