1、掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)SECM370是一款精密的掃描微電極系統(tǒng)，具有*空間分辨率，在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。用于檢測，分析，或改變樣品在溶液中的表面和界面化學(xué)性質(zhì)。


2、SVP370（SVET）掃描振動(dòng)電極技術(shù)是一種非破壞性掃描，利用振動(dòng)探針，測量電化學(xué)化學(xué)樣品表面產(chǎn)生的電特性。確保用戶可以實(shí)時(shí)測定和定量局部電化學(xué)反應(yīng)以及腐蝕。


3、掃描卡爾文探針系統(tǒng)SKP370，是一種無接觸，無破壞性的儀器，可以用于測量導(dǎo)電，涂膜，或半導(dǎo)體材料，與樣品探針之間的功函差。這種技術(shù)是用一個(gè)振動(dòng)電容探針來工作的，通過調(diào)節(jié)一個(gè)外加的前級電壓測量樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。功函和表面狀況相關(guān)。SKP的*性質(zhì)使在潮濕環(huán)境甚至是氣態(tài)環(huán)境中也可以測量，將不可能研究變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)。

 
4、微區(qū)電化學(xué)阻抗測試系統(tǒng)LEIS370結(jié)合了電化學(xué)阻抗EIS技術(shù)和微區(qū)掃描技術(shù)，可以的測試局部微區(qū)的阻抗以及相應(yīng)參數(shù)。


5、電解液微滴掃描系統(tǒng)SDS370可以限定液體與樣品的接觸面，從而對于液滴與樣品直接接觸面內(nèi)的電化學(xué)和腐蝕反應(yīng)進(jìn)行測量。這樣就可以在空間分辨率上提供電化學(xué)活性，并使其限定在樣品特定量化表面。

6、非觸式微區(qū)形貌測試系統(tǒng)OSP370，使用非接觸式激光位移傳感器，OSP370模塊可快速準(zhǔn)確地對非觸表面進(jìn)行高精度測量。在不接觸樣品表面的情況下，它可以在10mm的高度范圍內(nèi)提供小于1微米高度分辨率的3D表面特寫影像。

7、配件
各種可選配件，包括各種可選探針，可選池體（Environmental TriCellTM,μTriCellTM,和Shallow μTriCellTM），長工作距離光學(xué)視頻顯微鏡（VCAM2）和3D表面陰影渲染軟件（3DlsoPlotTM）。能配置到一個(gè)特定的應(yīng)用程序并升級，使M370*靈活，同時(shí)保持頂端的性能。