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掃描電化學(xué)顯微鏡在腐蝕研究方面具有重要意義
掃描電化學(xué)顯微鏡將傳統(tǒng)的電極表面的電化學(xué)行為研究從宏觀尺寸拓展到局部的微米和納米尺度范圍內(nèi)。傳統(tǒng)的SECM使用超微電極（R<25um）探針在樣品表面近距離進(jìn)行恒高掃描以得到探針與樣品之間的電化學(xué)反應(yīng)信號(hào)，從而可以用來研究探針或者樣品與電化學(xué)反應(yīng)活性物種之間的相互作用過程和原理。傳統(tǒng)的SECM是探針以恒高方式掃描，而實(shí)際樣品表面高低起伏的變化會(huì)導(dǎo)致終得到的電化學(xué)反應(yīng)信號(hào)中夾雜著由于探針與樣品之間實(shí)際距離的不固定而引起的卷積效應(yīng)，降低了局部電化學(xué)信號(hào)的分辨率。
SECM在腐蝕中的應(yīng)用日益受到重視 。SECM的檢測(cè)信號(hào)是電流或者電位，因而具有化學(xué)反應(yīng)靈敏性，不但可以研究探頭或者基底電極上的異相反應(yīng)電荷轉(zhuǎn)移動(dòng)力學(xué)和溶液中的均相反應(yīng)動(dòng)力學(xué),甚至可以獲得界面雙電層信息,還可以原位分辨表面微區(qū)電化學(xué)不均勻性，從而彌補(bǔ)了掃描電鏡等不能直接提供電化學(xué)活性信息的不足，這對(duì)于腐蝕研究具有重要的意義。