電子顯微鏡之的發(fā)展歷程簡介-光學(xué)儀器小常識
閱讀:2623 發(fā)布時(shí)間:2013-1-15
電子顯微鏡之歷史演進(jìn)
光學(xué)顯微鏡(Light Microscopes)受限于波長繞射的限制,因此解析度只能到300nm左右。
為突破對物體微觀世界之觀察,開始有電子顯微鏡(Electron Microscopes)之發(fā)展。自十九世紀(jì)末(西元1897年)英國科學(xué)家湯姆森(J.J. Thomson)發(fā)現(xiàn)電子(Electron)以來,
在十九世紀(jì)末二十世紀(jì)初,許多的物理理論相繼發(fā)展與驗(yàn)證,這些科學(xué)發(fā)展也奠定電子波質(zhì)二元論之基礎(chǔ)。
1927 年美國 Davisson和Germer兩氏以電子繞射實(shí)驗(yàn)證實(shí)了電子的波動性。之后J.J. Thomson作陰極射線管實(shí)驗(yàn)時(shí),
觀察到電場及磁場可偏折電子束。因此后人開始利用此一觀點(diǎn),藉由電磁場聚焦電子產(chǎn)生放大作用。電磁場對電子之作用與光學(xué)透鏡對光波之作用非常相似,
因而發(fā)展出電磁透鏡。為探討奈米尺度物體之微觀世界,電子顯微鏡之技術(shù)隨著時(shí)代不斷的改進(jìn),以滿足人類對物體之奈米世界的渴望。
談到電子顯微鏡,我們一定會提到對此領(lǐng)域相當(dāng)有貢獻(xiàn)之諾貝爾獎(jiǎng)得主:Ruska。1932年Ruska與Knoll將電磁透鏡之構(gòu)想應(yīng)用在實(shí)際之實(shí)驗(yàn)儀器上,
之后于1934年Ruska在其實(shí)驗(yàn)室制作出*部穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope;TEM)。
參考資料
http://www.bjsgyq.com/體視顯微鏡 , 顯微鏡
http://www.bjsgyq.com/體視顯微鏡 , 顯微鏡