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觸控面板高低溫濕度及沖擊試驗(yàn)規(guī)范
點(diǎn)擊次數(shù)：2974 發(fā)布時(shí)間：2014-7-19
觸控面板高低溫濕度及沖擊試驗(yàn)規(guī)范
觸控式面板（Touch Panel）
觸控式面板為一種可以取代計(jì)算機(jī)鍵盤及鼠標(biāo)，不需要復(fù)雜的程序即可在計(jì)算機(jī)熒幕上直接用手指或筆以觸碰方式輸入指令的透明熒幕。
觸控式面板以純玻璃式及電阻式的生產(chǎn)技術(shù)為主，純玻璃式為*代技術(shù)，其中又以電容式（Capacitive）為主。
電容式的優(yōu)點(diǎn)為防塵、防火、防刮、及具有高分辨率，但有價(jià)格昂貴、容易因靜電或溼度而造成誤動(dòng)作等缺點(diǎn)，主要應(yīng)用在各式信息系統(tǒng)查詢等公共應(yīng)用市場(chǎng)上。
電阻式則為第二代生產(chǎn)技術(shù)，電阻式觸控面板具有高分辨率、厚度薄、低耗電、價(jià)位低、操作方便等優(yōu)點(diǎn)，不過有透光率較差、耐久度較差、準(zhǔn)確度較低等缺點(diǎn)，主要應(yīng)用在消費(fèi)性電子產(chǎn)品。
⊙實(shí)測(cè)＆待測(cè)品照片：
項(xiàng)目 | 溫度 | 時(shí)間 | 其他 |
高溫試驗(yàn)-1 | 70℃/40～50%R.H. | 120小時(shí) | 試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。 |
高溫試驗(yàn)-2 | 70℃ | 240小時(shí) | 試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。 |
高溫試驗(yàn)-3 | 80℃ | 1000小時(shí) | 試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。 |
低溫試驗(yàn)-1 | -20℃ | 120 小時(shí) | 試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。 |
低溫試驗(yàn)-2 | -20℃ | 240 小時(shí) | 試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。 |
低溫試驗(yàn)-3 | -40℃ | 1000小時(shí) | 試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。 |
高溫高濕試驗(yàn)-1 | 60℃/90～95%R.H. | - | 96小時(shí)(必須沒有水凝結(jié)于待測(cè)品)，然后離開至室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試(絕緣阻抗值必須要有1MΩ數(shù)值)，24小時(shí)之后在測(cè)一次。 |
高溫高濕試驗(yàn)-2 | 60℃/90%RH | 120小時(shí) | 試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。 |
高溫高濕試驗(yàn)-3 | 70℃/90%RH | 1000小時(shí) | 試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè) |
高溫高濕試驗(yàn)-4 | 60℃/95%RH | - | 240小時(shí)，試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè) |
冷熱沖擊試驗(yàn)-1 | -20℃(30分鐘) | - | 10 cycle，試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。 |
冷熱沖擊試驗(yàn)-2 | -20℃(30分鐘) | - | 10 cycle，試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。 |
冷熱沖擊試驗(yàn)-3 | -20℃(1小時(shí)) | - | 10 cycle，試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。 |
冷熱沖擊試驗(yàn)-4 | -40℃(30分鐘) | - | 100 cycle，試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。 |
蒸汽老化試驗(yàn) | 100℃/100%R.H/1000min | - | - |
觸控式面板單點(diǎn)測(cè)試 | - | 1.以250g、8mm半徑的Silicon手指，每秒兩次打擊在觸控?zé)赡煌稽c(diǎn)上，并且觸控?zé)赡灰拥接?jì)算機(jī)系統(tǒng)，且要再通電的情況下測(cè)試。 | |
觸控式面板書寫測(cè)試 | - | 1.以250g、8mm半徑的無水筆，在一吋的在線來回測(cè)試，并且觸控?zé)赡灰拥接?jì)算機(jī)系統(tǒng)，且要再通電的情況下測(cè)試。 | |
觸控式面板表面硬度 | - | 3H以上 | |
觸控式面板透光度 |
| 類比式：80﹪以上 | |
觸控式面板線性 | - | ＜1.5﹪ | |
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