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            上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司

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            氫檢儀氣密性檢漏檢測儀

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            穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST

            體積電阻率/表面電阻測試

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            HIOKI發(fā)售三款LCR測試儀,IM3523,IM3533和IM3533-01

            2012-8-2  閱讀(2664)

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            HIOKI發(fā)售三款LCR測試儀,IM3523,IM3533和IM3533-01。適用于電子元器件業(yè)界,用途覆蓋從產(chǎn)線到研發(fā)的各個(gè)領(lǐng)域。
             
             
             
            應(yīng)用
             
            三款LCR測試儀在以往產(chǎn)品的基礎(chǔ)上又增加了新功能。IM3523在電子元器件生產(chǎn)方面、便捷,IM3533在IM3523的基礎(chǔ)上增加了變壓器測量和線圈感應(yīng)功能。zui后,IM3533-01包含了以上兩款所有功能并在性能上有所突破,增加了更多應(yīng)用于研究開發(fā)領(lǐng)域的功能。
             
             
             
            特點(diǎn)
             
            1.大范圍測量頻率、電壓和電流,適用于廣泛領(lǐng)域。
            三款測試儀與以往產(chǎn)品相比能更廣泛地測量頻率和信號(hào)范圍。這使得儀器在操作上帶來便捷的同時(shí)也能讓測量應(yīng)用領(lǐng)域變得更廣。   IM3523
             IM3533 IM3533-01 3522-50 (以往型號(hào))
            測量頻率 40 Hz 到 200 kHz 1 mHz 到 200 kHz 1 mHz 到 100 kHz
            測量電壓 5 mV 到 5 V 普通:5mV到5V
            低阻抗高精度模式:5mV到2.5V  10 mV 到 5 V
            測量電流 10 mA 到 50 mA 普通:10mA到50mA
            低阻抗高精度模式:10mA到100mA  10 mA 到 100 mA


            2.改進(jìn)后的基本精度±0.05%
            三款測試儀的基本精度是[Z(阻抗值)×測量值]×±0.05%。這點(diǎn)優(yōu)于以往產(chǎn)品(讀數(shù)精度的±0.08%)的性能改進(jìn)保證了更的測量。
            *Z(阻抗值):AC電路中的電阻值。


            3.測量效率提高,測量時(shí)間是以往時(shí)間的一半不到
            以往型號(hào)需要的測量時(shí)間為5 ms,而IM3523完成測量只需要2 ms,大幅提升了測量效率。在產(chǎn)線裝備上使用更加有效率,更短的測量時(shí)間可以降低成本。


            4.減少未知故障的接觸檢查功能
            儀器的接觸檢查功能在測量采樣時(shí)可檢測到故障線路和接觸不良,降低了未知故障的風(fēng)險(xiǎn),保證更可靠的測量。
             
             
             
             
            詳細(xì)特點(diǎn)
             
            1.IM3523
            (1) 小巧,輕便的設(shè)計(jì)能更方便地與產(chǎn)線設(shè)備配合使用。IM3523在安裝體積上比以往產(chǎn)品小約40%,重量輕約20%,這樣有足夠的空間將儀器安裝在產(chǎn)線上或自動(dòng)測試設(shè)備內(nèi)部。


            2.IM3533
            IM3533與IM3523相比,增加了以下功能:
            (1) IM3533可提供變壓器,線圈的測量,DCR進(jìn)行溫度補(bǔ)償和內(nèi)部DC偏置測量對測量鉭和其他極化電容也有幫助。IM3533能測量某個(gè)特定元件,測量范圍更廣。

            (2) 觸摸屏提高操作性
            The IM3533的觸摸屏提高了操作性能。


            3.IM3533-01
            IM3533-01在IM3523和IM3533的基礎(chǔ)上又增加了以下功能,特別適用于研究開發(fā)領(lǐng)域。

            (1) 掃頻功能,是研發(fā)部門的理想選擇。
            IM3533-01的掃頻功能可以讓用戶在特定范圍內(nèi)觀察每個(gè)頻率點(diǎn)測量值的變化,對于研發(fā)人員在評估電子元器件的特征時(shí)是個(gè)有效的工具。測量結(jié)果可通過USB存儲(chǔ)器或其它接口保存在電腦或另外的裝置上,以便對每個(gè)頻率點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。

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