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慶聲KSON薄膜太陽(yáng)能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī)  

    薄膜太陽(yáng)電池可以使用在價(jià)格低廉的玻璃、塑料、陶瓷、石墨，金屬片等不同材料當(dāng)基板來制造，薄膜太陽(yáng)電池在溫度循環(huán)、濕冷凍、濕熱試驗(yàn)中的量測(cè)及電壓輸入的方式，與晶圓型是不一樣的所以量測(cè)方式也所有不同，是不可以混淆的，薄膜型太陽(yáng)能電池所依據(jù)的試驗(yàn)規(guī)范為IEC 61646、IEC 61215、UL1703、GB9535、GB18911..等。

形成可產(chǎn)生電壓的薄膜厚度僅需數(shù)μm，因此在同一受光面積之下可較硅晶圓太陽(yáng)能電池大幅減少原料的用量(厚度可低于硅晶圓太陽(yáng)能電池90%以上)，目前轉(zhuǎn)換效率高以可達(dá)13%，薄膜電池太陽(yáng)電池除了平面之外，也因?yàn)榫哂锌蓳闲钥梢灾谱鞒煞瞧矫鏄?gòu)造其應(yīng)用范圍大，可與建筑物結(jié)合或是變成建筑體的一部份，在薄膜太陽(yáng)電池制造上，則可使用各式各樣的沈積(deposition)技術(shù)，一層又一層地把p-型或n-型材料長(zhǎng)上去，常見的薄膜太陽(yáng)電池有非晶硅、CuInSe2 (CIS)、CuInGaSe2 (CIGS)、和CdTe..等。

慶聲KSON薄膜太陽(yáng)能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī) 產(chǎn)品特色：

a.符合IEC61646-10.11、GB18911-10.11、CNS15115-10.11熱循環(huán)、濕冷凍、濕熱規(guī)范當(dāng)中的試驗(yàn)要求

b.試驗(yàn)過程進(jìn)行相關(guān)電性與物理量量測(cè)

c.柜內(nèi)頂端不得有凝結(jié)水滴在試件上

d.專li設(shè)計(jì)太陽(yáng)能放置治具

e.試驗(yàn)結(jié)束待測(cè)品回常溫保護(hù)機(jī)制

目的：確定組件于溫度重復(fù)變化時(shí),引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。

要求：

1.整個(gè)測(cè)試過程中紀(jì)錄模塊溫度，測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

2.整個(gè)測(cè)試過程中，監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

3.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器

4.監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測(cè)試過程中無(wú)間歇開路或接地失效)。

慶聲KSON薄膜太陽(yáng)能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī) 參數(shù)指標(biāo)

溫度循環(huán)比較

低溫

高溫

溫變率

駐留時(shí)間

循環(huán)數(shù)

IEC61646

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

GB18911

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

CNS15115

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

Humidity-freeze test(濕冷凍測(cè)試)

目的：確定組件承受高溫、高濕之后以及隨后的零下溫度影響的能力。

要求：

1.整個(gè)測(cè)試過程中紀(jì)錄模塊溫度，測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

2.整個(gè)測(cè)試過程中，監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

3.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器

4. 監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測(cè)試過程中無(wú)間歇開路或接地失效)。

溫度循環(huán)比較

高溫高濕

低溫

溫變率

循環(huán)數(shù)

IEC61646

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

GB18911

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

CNS15115

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

Damp Heat(濕熱測(cè)試)

目的：確定模塊抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力。

試驗(yàn)條件：85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h(IEC61646-10.13、GB18911-10.13、CNS15115-10.13)

  直立式觸控式控制系統(tǒng)

 控制系統(tǒng)通過EMC(電磁兼容性)驗(yàn)證

  直立式全彩液晶TFT,簡(jiǎn)/繁/英文顯示器

  9999 HOURS / STEP 每段可控制時(shí)間

  150 program x 100 step 程序記憶容量

  USB2.0儲(chǔ)存接口與曲線記錄 

  12 bit D/A 溫度濕度轉(zhuǎn)換接口

  全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)

  High power LED運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈 

  Index 運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈 

慶聲KSON太陽(yáng)能電池開路量測(cè)檢測(cè)系統(tǒng)

(Photovoltaic Module Electrical Performance Test)  

 太陽(yáng)能電池在可靠度測(cè)試中必須要進(jìn)規(guī)范所提到的濕冷凍、溫度循環(huán)、濕熱試驗(yàn)..等試驗(yàn)，確認(rèn)太陽(yáng)能電池在試驗(yàn)過程當(dāng)中是否發(fā)生故障或是失效，透過開路測(cè)試系統(tǒng)可以進(jìn)行簡(jiǎn)易的太陽(yáng)能電池失效判定。

IEC61646、IEC61215、UL1703、IEEE1513規(guī)范對(duì)試驗(yàn)中量測(cè)系統(tǒng)要求：

太陽(yáng)能電池規(guī)范

IEC61646(薄膜太陽(yáng)能)

IEC61215(晶圓太陽(yáng)能)

UL1703(晶圓太陽(yáng)能)

IEE1513(聚光型太陽(yáng)能)

整個(gè)測(cè)試過程中，監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍  

監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍  

整個(gè)測(cè)試過程中紀(jì)錄模塊溫度

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán) 熱循環(huán)、濕冷凍  

并監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測(cè)試過程中無(wú)間歇開路或接地失效)。

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán) 熱循環(huán)、濕冷凍  

絕緣電阻需符合如初步量測(cè)之相同要求

熱循環(huán)、濕冷凍、

濕熱試驗(yàn) 熱循環(huán)、濕冷凍、

濕熱試驗(yàn) 熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍、

濕熱試驗(yàn)

施加電流等于測(cè)試模塊之STC大功率電流±2%之儀器(50個(gè)cycle內(nèi)不需通電，模塊溫度大于25℃時(shí)才通電)

  熱循環(huán)  

測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍  

適用規(guī)范：IEC61215 , IEC61646 , UL1703 , IEC62108 , IEEE1513,IEC61730 

試驗(yàn)試驗(yàn)條件：溫度循環(huán)(Thermal Cycling Test)、濕冷凍(Humidity Freeze Test)

濕熱 (Damp-heat test)

量測(cè)軌道：4組太陽(yáng)能電池(溫度*1+電壓*2+電阻*1)+爐內(nèi)溫濕度

失效判定：設(shè)定量測(cè)值上下限范圍

報(bào)表：EXCEL報(bào)告

曲線：18軌多軌曲線(電壓、電阻、表面溫度、試驗(yàn)爐溫濕度)

控制模式：量測(cè)、暫停、停止

溫度量測(cè)：熱電偶合

備注：此系統(tǒng)不包含太陽(yáng)能恒溫恒濕機(jī)、計(jì)算機(jī)、計(jì)算機(jī)桌、儀器架

建議搭配設(shè)備：太陽(yáng)能恒溫恒濕機(jī)