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產品簡介
高低溫試驗箱-四川宏展測試設備常用于適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。電工、電子、儀器儀表及其它產品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗；是試驗產品的高能篩選幫手。該設備是我廠高新產品之一。
詳細介紹
高低溫試驗箱-四川宏展測試設備
用途：
廣泛用于電工、電子、航天、航空、儀器儀表等行業(yè)作、材料、零部件設備等的加速濕熱試驗，交變溫度試驗，以便對試品在給定的環(huán)境條件下的行為性能作出評價。
設備滿足規(guī)范條件：
| 執(zhí)滿足標準 電工委員會標準,IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱 電工委員會標準,IEC68-2-01_試驗方法A_冷 電工委員會標準,IEC68-2-02_試驗方法B_干熱 美國標準,MIL-STD-810F-507.4 濕度 美國標準,MIL-STD-810F-501.4 高溫 美國標準,MIL-STD-810F-502.4 低溫 美國標準,MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗 美國標準,MIL-STD810D方法502.2 美國標準,MIL-STD810方法507.2程序3 日本工業(yè)標準,JIS C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩(wěn)態(tài) 日本工業(yè)標準,JIS C60068-2-2-1995 試驗B:干熱 日本工業(yè)標準,JIS C60068-2-1-1995 試驗A:低溫 美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗 美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗 美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗 中國國家標準,GB/T 2423.1-2001 低溫 中國國家標準,GB/T 2423.2-2001 高溫 中國國家標準,GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法 中國國家標準,GB2423.34-86 溫濕度組合循環(huán)試驗 中國國家標準,GB/T2423.4-93方法 中國國家環(huán)境試驗設備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗 |
 高低溫試驗箱-四川宏展測試設備 |
設備基本參數：
| ◇型號規(guī)格及主要技術參數 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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高低溫試驗箱-四川宏展測試設備
公司設有環(huán)境試驗設備研究所，普遍采用三維CAD輔助設計技術，局域網實現技術資源共享，充分利用互聯網進行產品技術要求及設計方案等信息的迅速交流，標準化與自動化設計技術的應用，深入研究與熟悉各項環(huán)境試驗與試驗設備標準。因此，廣東宏展科技有限公司能高質量、高速度地為客戶設計、制造、安裝調試各種規(guī)格與技術要求的高低溫試驗箱。
