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局部放電檢測(cè)儀相關(guān)知識(shí)簡(jiǎn)介，局部放電檢測(cè)儀也稱為局部放電儀。 局部放電測(cè)量?jī)x，局部放電測(cè)試系統(tǒng)。 局部放電檢測(cè)儀是開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的新型儀器。 基本上致力于維持以往局部放電檢測(cè)儀的優(yōu)點(diǎn)和功能，縮小設(shè)備的體積、重量，使之成為名副其實(shí)的便攜式設(shè)備。
局部放電檢測(cè)儀相關(guān)專業(yè)名詞知識(shí)介紹：
1、時(shí)間窗(門(mén)單元)
時(shí)間窗是為了防止比局部放電大的干擾信號(hào)進(jìn)入峰值檢波電路而設(shè)計(jì)的電路裝置。 由于在實(shí)際試驗(yàn)時(shí)，特別是現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí)，不可避免地會(huì)引入一些干擾，因此時(shí)間窗的使用顯得更加重要。
時(shí)間窗的工作原理分為打開(kāi)(高亮區(qū)域)和關(guān)閉(非高亮區(qū)域)橢圓的掃描定時(shí)，通過(guò)改變時(shí)間窗的位置和寬度來(lái)打開(kāi)放電脈沖置于導(dǎo)通(高亮區(qū)域)，關(guān)閉干擾脈沖(未施加區(qū)域)。 此時(shí)，儀表的讀數(shù)是放電脈沖值，噪聲與大小無(wú)關(guān)，對(duì)放電脈沖值沒(méi)有影響。 此時(shí)，如果兩個(gè)時(shí)間窗同時(shí)關(guān)閉，則儀表的讀數(shù)為整個(gè)橢圓的脈沖峰值。
2、視在放電量校準(zhǔn)器
視在放電量校準(zhǔn)器是標(biāo)準(zhǔn)的電量發(fā)生器，在試驗(yàn)前輸出一定的電量和試驗(yàn)品的兩端，模擬用該電量放電時(shí)的局部放電測(cè)試儀的響應(yīng)，此時(shí)調(diào)整刻度系數(shù)，確定局部放電測(cè)量器的范圍，試驗(yàn)時(shí)測(cè)量該試驗(yàn)品在額定電壓下的視放電量。 由于該放電量不是直接測(cè)量，而是用標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器進(jìn)行比較間接測(cè)量，因此被稱為“視在放電量”。 校準(zhǔn)電量發(fā)生器是測(cè)量局部放電時(shí)所需的儀器，其性能參數(shù)直接關(guān)系到測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
視在放電量校正器由校正脈沖電壓發(fā)生器和校正電容器串聯(lián)構(gòu)成，其參數(shù)主要包括脈沖波形的上升時(shí)間、衰減時(shí)間、內(nèi)阻、脈沖峰值、校正電容器值等。
校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器電壓波形的上升時(shí)間為從0.1U0到0.9U0的時(shí)間，衰減時(shí)間定義為從峰值到0.1U0的時(shí)間。
3、局部放電
局部放電是指在絕緣的局部位置放電，不構(gòu)成絕緣整體的貫通破壞。 有內(nèi)部放電(介質(zhì)內(nèi)部)、沿面放電(介質(zhì)表面)、電暈放電(電極前端) 3種放電形式。
4、電荷量q
向試料兩端瞬間注入一定的電荷量，使試料的端電壓變化和局部放電本身引起的端電壓變化相同。 該注入量是局部放電的表觀電荷量。
5、檢測(cè)阻抗
檢測(cè)阻抗是提取檢測(cè)信號(hào)的裝置，在使用中，為了提高局部放電測(cè)量的靈敏度、分辨率、波形特性、信噪比，必須根據(jù)不同的測(cè)試目的，根據(jù)受試者的種類選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)阻抗。
