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            北京中慧天誠科技有限公司

            當前位置:北京中慧天誠科技有限公司>>實驗室儀器>> WBLH-200J高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計

            高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計

            參  考  價:面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準

            產(chǎn)品型號WBLH-200J

            品牌

            廠商性質(zhì)其他

            所在地長治市

            更新時間:2024-11-11 10:55:25瀏覽次數(shù):1319次

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            本儀器采用了渦流測厚方法,可損的測量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導電覆層的厚度(如琺瑯、相交、油漆、塑料等)。內(nèi)置打印機,可打印數(shù)據(jù),有四個統(tǒng)計功能。

            高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計 日本
            型號:WBLH-200J
            貨號:ZH6917

            產(chǎn)品簡介
               本儀器采用了渦流測厚方法,可損的測量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導電覆層的厚度(如琺瑯、相交、油漆、塑料等)。內(nèi)置打印機,可打印數(shù)據(jù),有四個統(tǒng)計功能。
            測定方法:高頻渦流式
            測定對象:非磁性金屬上緣層
            測定范圍:電磁式:0~800um或0~32.0mils
            測定精度:<50um±1um  >50um±2%
            分辨率:<100um 0.1um  >100um 1um
            界限設定:可設定上/下限數(shù)值
            測試單位:公/英制互換
            顯示方式:LCD數(shù)顯
            操作面板:密封防水按鍵
            附屬品:鐵基體/鋁基體/校正標準片/電池/皮套/說明書
            電源:DV3V 主機5#堿性電池×6個 打印機5#堿性電池×4個
            體積:80(W)×80(D)×30(H)
            重量:1100g


             


             

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